參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.配位數(shù)（CN）：測定目標原子周圍最近鄰原子數(shù)量（單位：個）
2.鍵長分布（BLD）：統(tǒng)計原子間距分布范圍（單位：）
3.原子對關(guān)聯(lián)函數(shù)（PCF）：計算0.5-5范圍內(nèi)的徑向分布函數(shù)
4.局域結(jié)構(gòu)因子（LSF）：分析5-20nm尺度內(nèi)的有序度指數(shù)
5.化學(xué)短程序參數(shù)（CSRO）：測定異種原子偏聚系數(shù)（0-1標度）

檢測范圍

1.金屬合金：鋁合金/鈦合金/高熵合金的溶質(zhì)原子偏聚
2.半導(dǎo)體材料：硅基材料中的摻雜劑分布
3.高分子聚合物：共聚物鏈段排列有序性
4.陶瓷材料：非晶陶瓷的亞穩(wěn)態(tài)結(jié)構(gòu)
5.納米復(fù)合材料：界面原子互擴散層厚度

檢測方法

1.X射線衍射法：ASTME1426-14(2020)小角散射標準
2.中子散射法：ISO20210:2017非彈性散射規(guī)程
3.電子能量損失譜：GB/T23412-2009局域電子結(jié)構(gòu)分析
4.擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)：GB/T29731-2013近鄰結(jié)構(gòu)測定
5.拉曼光譜法：ASTME2911-19振動模式關(guān)聯(lián)分析

檢測設(shè)備

1.X射線衍射儀：PANalyticalEmpyrean（0.01角度分辨率）
2.場發(fā)射透射電鏡：ThermoFisherTalosF200X（0.16nm點分辨率）
3.中子三軸譜儀：MLFBL14AMATERAS（能量分辨率≤50μeV）
4.X射線光電子能譜儀：KratosAXISSupra+（單色AlKα源）
5.三維原子探針：CAMECALEAP5000XR（0.3nm空間分辨率）
6.同步輻射裝置：上海光源BL14B1線站（5-20keV連續(xù)可調(diào)）
7.拉曼光譜系統(tǒng)：HoribaLabRAMHREvolution（532/633/785nm三激光源）
8.正電子湮沒譜儀：ORTECPositronFit（時間分辨率230ps）
9.Mssbauer譜儀：WissElMS4（57Co源精度0.01mm/s）
10.動態(tài)光散射儀：MalvernZetasizerNanoZS（0.3nm-10μm量程）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)