參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.中心頻率偏差：測(cè)量標(biāo)稱頻率與實(shí)際輸出頻率的絕對(duì)差值（10ppm）
2.溫度特性曲線：記錄-40℃至+85℃溫變條件下的頻率漂移量（0.5ppm/℃）
3.負(fù)載牽引效應(yīng)：測(cè)試負(fù)載阻抗在50Ω20%波動(dòng)時(shí)的頻率偏移（≤15ppm）
4.老化率衰減：評(píng)估1000小時(shí)持續(xù)工作后的長(zhǎng)期穩(wěn)定性（≤3ppm/年）
5.相位噪聲譜密度：分析1kHz至1MHz偏移處的噪聲水平（-140dBc/Hz@10kHz）

檢測(cè)范圍

1.石英晶體元件：AT切型/SC切型晶振、TCXO/OCXO恒溫晶振
2.射頻模塊組件：SAW濾波器、介質(zhì)諧振器、微波振蕩器
3.集成電路芯片：PLL鎖相環(huán)芯片、時(shí)鐘發(fā)生器IC
4.通信系統(tǒng)設(shè)備：基站射頻單元、衛(wèi)星導(dǎo)航接收模塊
5.汽車(chē)電子部件：ECU時(shí)鐘電路、胎壓監(jiān)測(cè)傳感器

檢測(cè)方法

1.ASTMF1800-19：石英晶體元件頻率溫度特性測(cè)試規(guī)程
2.IEC60679-1:2017：壓電振蕩器通用規(guī)范及測(cè)量方法
3.GB/T12273-2017：石英晶體元件參數(shù)測(cè)試方法
4.MIL-PRF-55310G：軍用高穩(wěn)晶體振蕩器驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
5.JESD82-31A：DDR存儲(chǔ)器時(shí)鐘信號(hào)完整性測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.KeysightN5224BPNA網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz-43.5GHz）
2.Rohde&SchwarzFSWP相位噪聲分析儀（26.5GHz帶寬）
3.AnritsuMG3647A高頻信號(hào)發(fā)生器（100kHz-40GHz）
4.TemptronicTP04300A溫控試驗(yàn)箱（-70℃至+180℃）
5.Agilent53132A通用計(jì)數(shù)器（225MHz基準(zhǔn)時(shí)鐘）
6.NationalInstrumentsPXIe-5646R矢量信號(hào)收發(fā)儀
7.Chroma3380系統(tǒng)電源模塊（0-60V/20A程控輸出）
8.B&KPrecision891阻抗分析儀（20Hz-120MHz）
9.Fluke8588A參考級(jí)萬(wàn)用表（8.5位分辨率）
10.ESPECSH-642快速溫變?cè)囼?yàn)箱（15℃/min變溫速率）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)