參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.銀含量測(cè)定：采用ICP-OES法檢測(cè)鍍層中Ag元素占比（85-95%），符合GB/T15072.3-2008
2.鈷氧化物純度分析：XRD測(cè)定Co3O4晶相純度（≥99.5%），參照ASTME1479-16
3.鍍層厚度測(cè)試：臺(tái)階儀測(cè)量膜厚（0.5-5μm），執(zhí)行ISO1463:2021標(biāo)準(zhǔn)
4.結(jié)合力強(qiáng)度：劃痕法測(cè)試附著力（≥50N），依據(jù)GB/T5270-2005
5.耐鹽霧性能：中性鹽霧試驗(yàn)（48h無(wú)腐蝕），按ISO9227:2022執(zhí)行

檢測(cè)范圍

1.電子接插件鍍銀層：USB接口/射頻連接器等表面處理件
2.催化電極材料：燃料電池用Co3O4@Ag復(fù)合電極
3.高溫防護(hù)涂層：航空發(fā)動(dòng)機(jī)部件鍍層
4.電磁屏蔽材料：5G設(shè)備屏蔽罩鍍層
5.抗菌涂層材料：醫(yī)療器械表面功能鍍層

檢測(cè)方法

1.ASTMB798-19：鍍層孔隙率凝膠法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
2.ISO3497:2020：多層膜X射線熒光測(cè)厚法
3.GB/T4336-2016：碳素鋼中元素含量的火花源發(fā)射光譜法
4.ASTMB568-98(2021)：X射線光譜法測(cè)定鍍層厚度
5.GB/T1771-2007：色漆和清漆耐中性鹽霧性能測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：多元素同步分析（檢出限0.01ppm）
2.BrukerD8ADVANCEXRD：晶體結(jié)構(gòu)分析（角度精度0.0001）
3.KLATencorP-7臺(tái)階儀：納米級(jí)膜厚測(cè)量（分辨率0.1nm）
4.CS350電化學(xué)工作站：極化曲線/阻抗譜測(cè)試（頻率范圍10μHz-1MHz）
5.Q-FOGCCT1100鹽霧箱：循環(huán)腐蝕試驗(yàn)（溫度控制0.5℃）
6.Zwick/RoellZHV10顯微硬度計(jì)：鍍層力學(xué)性能測(cè)試（載荷0.01-10kg）
7.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：微觀形貌觀察（分辨率1nm）
8.OxfordInstrumentsX-MaxN80能譜儀：元素面分布分析（探測(cè)面積80mm）
9.MitutoyoLitematicVL-50測(cè)厚儀：非接觸式厚度測(cè)量（精度0.05μm）
10.Elcometer456劃痕測(cè)試儀：涂層附著力定量分析（載荷范圍0-200N）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)