參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.全脫碳層深度：測(cè)量完全無(wú)滲碳體區(qū)域厚度（0-500μm）
2.部分脫碳層深度：測(cè)定碳含量梯度變化區(qū)域（0.02-0.8mm）
3.表面碳含量損失率：定量分析C元素質(zhì)量百分比（0.05%）
4.顯微硬度梯度：HV0.1硬度值從表面到基體的變化曲線(xiàn)（50-800HV）
5.晶粒度差異：對(duì)比脫碳區(qū)與基體晶粒尺寸（ASTME112標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)）

檢測(cè)范圍

1.合金結(jié)構(gòu)鋼：20CrMnTi、42CrMo等齒輪及軸類(lèi)零件
2.軸承鋼：GCr15系列精密軸承套圈及滾子
3.彈簧鋼：60Si2MnA、55Cr3板簧及螺旋彈簧
4.工具鋼：T8A、9SiCr切削刀具及模具
5.管線(xiàn)鋼：X70/X80級(jí)油氣輸送管材

檢測(cè)方法

1.金相分析法（ASTME1077-14）：通過(guò)4%硝酸酒精腐蝕后觀察珠光體含量變化
2.顯微硬度法（GB/T224-2019）：采用50g載荷測(cè)定HV0.05硬度梯度
3.光譜分析法（ISO15351:2016）：使用GDS輝光放電光譜儀進(jìn)行表層C元素定量
4.電子探針?lè)ǎ℅B/T15074-2008）：EPMA-1720H型儀器進(jìn)行微區(qū)成分線(xiàn)掃描
5.X射線(xiàn)衍射法（ASTME975-13）：測(cè)定殘余奧氏體含量變化（精度1.5%）

檢測(cè)設(shè)備

1.OlympusGX53金相顯微鏡：配備DP27數(shù)碼相機(jī)及Stream圖像分析軟件
2.Wilson402MVD顯微硬度計(jì)：自動(dòng)加載系統(tǒng)支持HV/HK雙標(biāo)尺轉(zhuǎn)換
3.SPECTROMAXx光譜儀：氬氣環(huán)境下的火花直讀光譜分析系統(tǒng)
4.ShimadzuEPMA-1720H電子探針：WDX/WDS聯(lián)合分析模式（空間分辨率1μm）
5.BrukerD8ADVANCEXRD：Cu靶X射線(xiàn)源配合LynxEye陣列探測(cè)器
6.LeicaDM2700M智能顯微鏡：搭載LASX三維景深擴(kuò)展模塊
7.ZwickRoellZHVμ顯微硬度平臺(tái)：集成自動(dòng)平臺(tái)位移系統(tǒng)（定位精度0.1μm）
8.ThermoScientificARL4460光譜儀：真空紫外光學(xué)系統(tǒng)（波長(zhǎng)范圍125-800nm）
9.JEOLJXA-8530F場(chǎng)發(fā)射電子探針：束流穩(wěn)定性≤0.1%/h
10.MitutoyoSJ-410輪廓儀：非接觸式表面形貌測(cè)量（縱向分辨率0.01μm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)