參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.礦物成分分析：測(cè)定SiO?（35-45%）、Al?O?（15-25%）、K?O（6-10%）、FeO（2-5%）及H?O（1.5-3.5%）含量范圍
2.晶體結(jié)構(gòu)鑒定：測(cè)定晶胞參數(shù)（a=5.30.02,c=10.10.05）及層間距（d(001)=10.00.2）
3.熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用分析（室溫至1200℃，升溫速率10℃/min）
4.粒度分布測(cè)定：D50值控制在5-50μm區(qū)間（激光散射法）
5.化學(xué)成分定量分析：ICP-OES法測(cè)定CaO（0.5-3.0%）、MgO（1.0-4.0%）等微量元素

檢測(cè)范圍

1.地質(zhì)樣品：火成巖、變質(zhì)巖中的層狀硅酸鹽礦物
2.陶瓷原料：高溫絕緣材料基體組分
3.建筑材料：功能性填料及防火涂層添加劑
4.電子材料：云母電容器介質(zhì)材料
5.環(huán)境樣品：土壤/沉積物中的特征指示礦物

檢測(cè)方法

1.X射線衍射法（XRD）：GB/T17412.3-2010《巖石礦物鑒定規(guī)范》
2.X射線熒光光譜法（XRF）：ASTMD4326-21《硅酸鹽化學(xué)分析方法》
3.熱重-差示掃描量熱法（TG-DSC）：ISO11358-1:2022《塑料熱重分析法》
4.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）：GB/T14506.30-2019《硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法》
5.掃描電子顯微鏡法（SEM）：ISO16700:2016《微束分析掃描電鏡校準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：配備LYNXEYEXE-T探測(cè)器，角度精度0.0001
2.ThermoFisherARLPERFORM'XXRF光譜儀：4kW銠靶管壓，可測(cè)元素范圍Be-U
3.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀：溫度分辨率0.1℃，最大載荷20g
4.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm
5.Agilent5110ICP-OES光譜儀：垂直炬管設(shè)計(jì)，軸向/徑向雙觀測(cè)模式
6.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：分辨率1nm@15kV,EDS探測(cè)器能量分辨率129eV
7.NetzschDIL402ExpedisClassic熱膨脹儀：溫度范圍RT-1600℃，膨脹量程2500μm
8.ShimadzuUV-2600i分光光度計(jì)：帶寬0.1/0.5/1/2/5nm五檔可調(diào)
9.MettlerToledoXP205分析天平：稱量精度0.01mg/220g
10.HeylneggertMULTIMAT27傅里葉紅外光譜儀：光譜范圍7800-350cm?

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)