鈮酸鋰晶體檢測
鈮酸鋰晶體檢測摘要：檢測項目1.折射率均勻性：測量632.8nm波長下Δn≤0.00052.電光系數r33：標稱值30.80.5pm/V@633nm3.居里溫度：標準值121010℃4.光學損耗系數：≤0.1dB/cm@1550nm5.壓電常數d33：基準值60.3pC/N檢測范圍1.Z切/Y切/X切單晶基片2.周期性極化鈮酸鋰晶體3.摻鎂/摻鐵改性晶體4.薄膜型集成光學元件5.聲表面波濾波器芯片檢測方法1.GB/T11297.11-2015激光晶體折射率測試法2.ASTMF534-08(2023)電光系數干涉測量法3.IS
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
檢測項目
1.折射率均勻性：測量632.8nm波長下Δn≤0.0005
2.電光系數r33：標稱值30.80.5pm/V@633nm
3.居里溫度：標準值121010℃
4.光學損耗系數：≤0.1dB/cm@1550nm
5.壓電常數d33：基準值60.3pC/N
檢測范圍
1.Z切/Y切/X切單晶基片
2.周期性極化鈮酸鋰晶體
3.摻鎂/摻鐵改性晶體
4.薄膜型集成光學元件
5.聲表面波濾波器芯片
檢測方法
1.GB/T11297.11-2015激光晶體折射率測試法
2.ASTMF534-08(2023)電光系數干涉測量法
3.ISO17561:2016壓電材料參數測試規(guī)范
4.GB/T3389-2015介質材料介電常數測試
5.ISO14707:2000晶體表面缺陷電子顯微分析法
檢測設備
1.J.A.WoollamM-2000UI全自動橢偏儀：測量折射率分布
2.RigakuSmartLabX射線衍射系統：分析晶體取向誤差≤0.01
3.Agilent4294A精密阻抗分析儀：測試介電損耗(tanδ≤110?)
4.PerkinElmerLambda1050紫外分光光度計：光譜透過率測試范圍190-3300nm
5.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：居里溫度測定精度1℃
6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡：表面粗糙度Ra≤1nm
7.KeysightN5227A網絡分析儀：微波介電性能測試至50GHz
8.ZygoNewView9000白光干涉儀：面形精度λ/20@632.8nm
9.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系統：晶格常數測定誤差0.0001nm
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期：7~15工作日，可加急。
資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查，工程師1v1服務。
中析儀器 資質
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