參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.表面粗糙度掃描：Ra值測(cè)量范圍0.05-10μm，分辨率達(dá)納米級(jí)
2.厚度分布檢測(cè)：可測(cè)厚度0.1-50mm，精度0.5μm
3.內(nèi)部缺陷識(shí)別：最小檢出裂紋尺寸≥0.1mm
4.成分分布分析：元素含量檢測(cè)范圍0.01%-99.9%
5.幾何尺寸測(cè)量：三維尺寸公差0.001mm

檢測(cè)范圍

1.金屬材料：鋁合金鑄件/鈦合金鍛件/不銹鋼焊接件
2.高分子材料：聚乙烯(PE)管材/聚碳酸酯(PC)光學(xué)件
3.陶瓷材料：氧化鋁基板/碳化硅密封件
4.復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料(CFRP)結(jié)構(gòu)件
5.電子元件：印刷電路板(PCB)/半導(dǎo)體封裝體

檢測(cè)方法

1.ASTME2544-19X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描標(biāo)準(zhǔn)
2.ISO10878:2013無(wú)損檢測(cè)-紅外熱成像方法
3.GB/T3880.3-2012金屬材料超聲波測(cè)厚規(guī)范
4.ISO10109-7:2021光學(xué)表面粗糙度測(cè)量規(guī)程
5.GB/T34370.5-2017工業(yè)CT系統(tǒng)性能測(cè)試方法

檢測(cè)設(shè)備

1.OlympusOmniScanX3：64通道超聲相控陣系統(tǒng)
2.ZEISSMETROTOM1500：工業(yè)CT測(cè)量精度1.9+L/100μm
3.NikonXTH225：450kV微焦點(diǎn)X射線斷層掃描儀
4.Phoenixv|tome|xL450：納米焦點(diǎn)CT分辨率＜1μm
5.ThermoFisherScientificDXR3：532nm激光拉曼光譜儀
6.KeyenceVR-5000：16MP三維輪廓測(cè)量系統(tǒng)
7.BrukerContourElite：白光干涉表面形貌儀
8.OlympusIPLEXGLite：4mm直徑工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡
9.FLIRT865：640480紅外熱成像測(cè)溫儀
10.ShimadzuEDX-7000：50WX射線熒光光譜儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)