參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.孔徑精度：測量實際孔徑與標(biāo)稱值的偏差（0.5μm）

2.表面粗糙度：評估加工面Ra值（≤0.05μm）

3.同軸度誤差：光闌葉片中心偏移量（≤3μm）

4.透射波前畸變：干涉法測定λ/10@632.8nm

5.機械耐久性：開合循環(huán)測試（≥50萬次）

檢測范圍

1.生物顯微鏡可變光闌組件

2.激光切割機聚焦系統(tǒng)固定光闌

3.內(nèi)窺鏡可調(diào)式虹膜光闌

4.半導(dǎo)體光刻機衍射光闌

5.天文望遠鏡自適應(yīng)光闌模塊

檢測方法

ASTME1951-14光學(xué)元件表面形貌激光干涉測量法

ISO10110-5:2015光學(xué)系統(tǒng)波前畸變測試規(guī)范

GB/T9247-2018顯微鏡物鏡光闌技術(shù)要求與測試方法

ISO14999-4:2015光學(xué)元件孔徑尺寸計量規(guī)程

GB/T2831-2009光學(xué)零件表面粗糙度接觸式測量法

檢測設(shè)備

MitutoyoLSM-9000激光掃描測量儀：孔徑尺寸非接觸測量（分辨率0.1μm）

TaylorHobsonFormTalysurfPGI1240輪廓儀：表面粗糙度三維分析（垂直分辨率0.8nm）

ZygoVerifireMST激光干涉儀：透射波前畸變測試（精度λ/100）

OlympusOLS5000激光共聚焦顯微鏡：微結(jié)構(gòu)三維形貌重建（橫向分辨率120nm）

HexagonGlobalClassic三坐標(biāo)測量機：機械結(jié)構(gòu)幾何量計量（空間精度1.9+L/300μm）

KeyenceVR-5000高速光學(xué)應(yīng)變儀：動態(tài)疲勞測試（采樣率10000fps）

BrukerContourGT-X8白光干涉儀：納米級表面缺陷檢測（Z軸分辨率0.01nm）

SchneiderKreuznachMTF測量系統(tǒng)：調(diào)制傳遞函數(shù)分析（空間頻率200lp/mm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)