參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.暗電流特性：測量0.1-1000nA范圍內(nèi)的本底噪聲電流值
2.光譜響應度：測試400-1100nm波長范圍的量子效率（QE≥80%）
3.線性度誤差：在10^3-10^6lx照度下驗證輸出信號非線性度（≤1.5%）
4.增益均勻性：全靶面掃描時靈敏度偏差（CV值≤3%）
5.時間響應特性：上升時間≤50ns/下降時間≤100ns

檢測范圍

1.硅基光電陰極攝像管（S20/S25型）
2.紅外敏感型微通道板增強管（InGaAs材料）
3.X射線影像增強管（CsI:Tl閃爍體）
4.紫外成像管（MgF2窗口型）
5.高速掃描光電倍增管（時間分辨率≤200ps）

檢測方法

1.ASTMF1241-22光電轉(zhuǎn)換器件量子效率測試規(guī)程
2.ISO15529:2020光學系統(tǒng)調(diào)制傳遞函數(shù)測量法
3.GB/T18912-2019攝像管暗電流測試方法
4.IEC61788-21:2021超導器件低溫特性測試規(guī)范
5.GB/T26253-2010微通道板增益均勻性測試規(guī)程

檢測設備

1.Keithley2636B源表：暗電流及I-V特性曲線測量
2.OceanOpticsHR4000光譜儀：300-1100nm光譜響應分析
3.OphirNovaII激光功率計：光功率密度標定（精度0.8%）
4.HamamatsuC12132時間相關單光子計數(shù)器：納秒級時間響應測試
5.LabsphereLMS-760積分球：全向光均勻性校準系統(tǒng)
6.ThermoScientificLN2低溫恒溫器：77K-300K溫度特性測試
7.ZeissAxioImagerM2m金相顯微鏡：微通道板結(jié)構(gòu)缺陷分析
8.KeysightN9020B信號分析儀：信噪比（SNR≥60dB）測量
9.BrukerDektakXT輪廓儀：光敏面臺階高度（≤50nm）檢測
10.AgilentB1500A半導體分析儀：漏電流及擊穿電壓測試

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)