參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.粒度分布（D10/D50/D90值）：表征顆粒體系中10%、50%、90%累積分布對應(yīng)的粒徑值
2.比表面積（BET法）：測量單位質(zhì)量顆粒的總表面積（m/g）
3.中位徑（MedianSize）：統(tǒng)計樣本中50%顆粒的等效直徑
4.粒徑跨度（Span值）：計算（D90-D10）/D50評估分布寬度
5.粗顆粒含量（>45μm占比）：測定超標(biāo)大顆粒的質(zhì)量百分比

檢測范圍

1.金屬粉末：鈦合金粉、銅基粉末冶金原料
2.陶瓷材料：氧化鋁研磨介質(zhì)、碳化硅微粉
3.化工產(chǎn)品：碳酸鈣填料、二氧化鈦顏料
4.制藥原料：活性成分微粉化顆粒
5.食品添加劑：乳清蛋白粉、淀粉顆粒

檢測方法

1.激光衍射法：ASTMB822-20《金屬粉末粒度分布標(biāo)準(zhǔn)測試方法》
2.動態(tài)光散射法：ISO22412-2017《納米顆粒粒度分析》
3.篩分分析法：GB/T6003.1-2012《試驗篩技術(shù)要求和檢驗》
4.氣體吸附法：GB/T19587-2017《氣體吸附BET法測定固態(tài)物質(zhì)比表面積》
5.圖像分析法：ISO13322-1-2014《靜態(tài)圖像分析法測定顆粒形狀和粒度》

檢測設(shè)備

1.馬爾文Mastersizer3000：激光衍射粒度儀（測量范圍0.01-3500μm）
2.麥克默氏TriStarIIPlus：全自動比表面及孔隙度分析儀
3.布魯克NanoTracWaveII：動態(tài)光散射納米粒度分析儀
4.萊馳AS200jet：氣動篩分系統(tǒng)（配ISO標(biāo)準(zhǔn)篩組）
5.島津SALD-7500nano：干濕兩用激光粒度分析儀
6.貝克曼庫爾特LS13320：XRD增強(qiáng)型激光粒度儀
7.賽默飛Scios2DualBeam：聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）
8.安捷倫Cary630FTIR：傅里葉紅外光譜儀（結(jié)合粒徑分析）
9.堀場LA-960V2：全自動激光散射粒度分析系統(tǒng)
10.德國新帕泰克HELOS/RODOS：干法分散激光粒度儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)