參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.鍍層厚度測(cè)量：采用X射線熒光法（XRF）測(cè)定錫層厚度（0.5-15μm），允許偏差0.3μm
2.結(jié)合力測(cè)試：依據(jù)劃格法評(píng)估鍍層附著力（0-5級(jí)），要求達(dá)到ASTMD3359Class4B以上
3.孔隙率檢測(cè)：通過電化學(xué)法測(cè)定單位面積孔隙數(shù)量（≤5個(gè)/cm）
4.表面粗糙度分析：使用白光干涉儀測(cè)量Ra值（0.1-1.6μm）
5.耐腐蝕試驗(yàn)：中性鹽霧測(cè)試（GB/T10125）要求72小時(shí)無紅銹

檢測(cè)范圍

1.冷軋鋼板基材（SPCC/SPHC）鍍錫件
2.銅及銅合金（C1100/C5191）電子接插件
3.馬口鐵食品包裝容器（厚度0.15-0.30mm）
4.不銹鋼（SUS304/316）工業(yè)零部件
5.鋁合金（5052/6061）散熱片組件

檢測(cè)方法

1.ASTMB748-90(2021)鍍層厚度X射線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
2.GB/T5270-2020金屬基體上覆蓋層附著強(qiáng)度試驗(yàn)
3.ISO14647:2000金屬鍍層孔隙率電化學(xué)測(cè)試法
4.GB/T2523-2008冷軋金屬板表面粗糙度測(cè)定
5.ASTMB117-19鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程

檢測(cè)設(shè)備

1.FischerXDV-μX射線熒光測(cè)厚儀（分辨率0.01μm）
2.Elcometer1540劃痕附著力測(cè)試儀（載荷0-20N）
3.ZahnerZenniumPro電化學(xué)工作站（頻率范圍10μHz-1MHz）
4.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀（垂直分辨率0.1nm）
5.Q-FogCCT1100循環(huán)腐蝕試驗(yàn)箱（溫度范圍15-60℃）
6.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡（放大倍數(shù)50-100,000）
7.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡（景深合成功能）
8.PerkinElmerOptima8300ICP-OES（檢出限0.01ppm）
9.MTSC43萬能材料試驗(yàn)機(jī)（載荷精度0.5%）
10.ThermoScientificARLEQUINOX1000XRD分析儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)