參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.空間分辨率：測(cè)量最小可分辨線對(duì)密度（單位：lp/mm），采用ISO12233標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)定板進(jìn)行測(cè)試
2.對(duì)比度響應(yīng)：量化灰度階躍響應(yīng)曲線（ΔL≥10%），依據(jù)GB/T29298-2012設(shè)定閾值
3.MTF調(diào)制傳遞函數(shù)：在0-200lp/mm頻域范圍內(nèi)測(cè)定50%MTF對(duì)應(yīng)截止頻率
4.噪聲水平：基于ISO15739標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算信噪比（SNR≥30dB）與動(dòng)態(tài)范圍（DR≥12bit）
5.幾何畸變：使用網(wǎng)格標(biāo)定板測(cè)量徑向畸變率（≤1.5%）與切向畸變率（≤0.8%）

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)鏡頭：含手機(jī)鏡頭、工業(yè)相機(jī)鏡頭及顯微物鏡等
2.顯示屏組件：包括LCD/OLED面板及AR/VR顯示模組
3.CMOS/CCD圖像傳感器：覆蓋1/2.3英寸至全畫幅規(guī)格
4.印刷材料：防偽標(biāo)識(shí)/二維碼的印刷精度檢測(cè)（≥600dpi）
5.醫(yī)療影像設(shè)備：X光片/DICOM圖像的空間分辨率驗(yàn)證

檢測(cè)方法

1.ASTME2590-15：光學(xué)系統(tǒng)MTF測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方法
2.ISO9039:2008：光學(xué)系統(tǒng)畸變測(cè)量規(guī)程
3.GB/T17482-2019：圖像傳感器光電參數(shù)測(cè)試規(guī)范
4.IEC62629-41-1:2015：3D顯示器件串?dāng)_率測(cè)試
5.JJF1353-2012：數(shù)字成像系統(tǒng)分辨率校準(zhǔn)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoQV-302Pro高分辨率成像系統(tǒng)（精度0.5μm）
2.ImageEngineeringISO-12233測(cè)試標(biāo)定板（TypeA/B/C）
3.OptikosMTFBench光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x（波長(zhǎng)400-1000nm）
4.X-Ritei1Pro3Plus分光光度計(jì)（ΔE≤0.8）
5.VIAVIMCPD-3000微顯示參數(shù)分析系統(tǒng)
6.KonicaMinoltaCA-310色彩分析儀（精度2%）
7.FLIRA6260紅外熱像儀校準(zhǔn)裝置（NETD≤20mK）
8.SphereOpticsULCSUniformLightSource均勻光源箱
9.TriopticsImageMasterHR鏡頭MTF測(cè)試臺(tái)
10.RadiantProMetricY29成像色度計(jì)（2900萬像素）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)