電學(xué)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.絕緣電阻測(cè)試:測(cè)量范圍10^3~10^16Ω(DC100V~1000V),判定絕緣材料漏電流特性2.介質(zhì)損耗角正切(tanδ):頻率50Hz~1MHz,精度0.00013.擊穿電壓強(qiáng)度:AC/DC雙模式測(cè)試(0~100kV),升壓速率0.1~5kV/s4.表面/體積電阻率:四探針?lè)y(cè)量(10^-4~10^14Ωm)5.接地導(dǎo)通電阻:大電流法(25A/30A)測(cè)試接觸電阻≤0.1Ω檢測(cè)范圍1.金屬導(dǎo)體材料:銅鋁導(dǎo)線(xiàn)、合金接插件等導(dǎo)電性能驗(yàn)證2.半導(dǎo)體材料:晶圓載流子濃度、PN結(jié)反向擊穿電壓測(cè)試3
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.絕緣電阻測(cè)試:測(cè)量范圍10^3~10^16Ω(DC100V~1000V),判定絕緣材料漏電流特性
2.介質(zhì)損耗角正切(tanδ):頻率50Hz~1MHz,精度0.0001
3.擊穿電壓強(qiáng)度:AC/DC雙模式測(cè)試(0~100kV),升壓速率0.1~5kV/s
4.表面/體積電阻率:四探針?lè)y(cè)量(10^-4~10^14Ωm)
5.接地導(dǎo)通電阻:大電流法(25A/30A)測(cè)試接觸電阻≤0.1Ω
1.金屬導(dǎo)體材料:銅鋁導(dǎo)線(xiàn)、合金接插件等導(dǎo)電性能驗(yàn)證
2.半導(dǎo)體材料:晶圓載流子濃度、PN結(jié)反向擊穿電壓測(cè)試
3.絕緣材料:環(huán)氧樹(shù)脂、陶瓷基板等介質(zhì)耐壓特性分析
4.電子元件:電容器ESR值、電感器Q值等高頻參數(shù)測(cè)定
5.電力設(shè)備:變壓器繞組電阻、斷路器接觸阻抗等安規(guī)檢測(cè)
1.ASTMD257-14:絕緣材料體積電阻率與表面電阻率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試法
2.IEC60243-1:2013:固體絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)規(guī)程
3.GB/T1408.1-2016:絕緣材料工頻電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法
4.ISO1853:2018:導(dǎo)電橡膠體積電阻率測(cè)定四探針?lè)?br/>5.GB/T1692-2008:硫化橡膠絕緣電阻率試驗(yàn)規(guī)程
1.Keysight34461A數(shù)字萬(wàn)用表:6位分辨率,基本DCV精度0.0035%
2.HIOKIIR4056-20絕緣電阻計(jì):最大測(cè)試電壓1000V/測(cè)量范圍20TΩ
3.Chroma19032耐壓測(cè)試儀:AC5kV/DC6kV輸出,漏電流精度(1%+5dgt)
4.AgilentE4980ALCR表:20Hz至2MHz頻率范圍,基本精度0.05%
5.MeggerMIT525絕緣診斷系統(tǒng):極化指數(shù)(PI)/介質(zhì)吸收比(DAR)自動(dòng)計(jì)算
6.Tettex7950介損測(cè)試系統(tǒng):C&tanδ測(cè)量精度0.05%+0.00005
7.OmicronCPTD12接地電阻測(cè)試儀:55A脈沖電流法測(cè)量接觸電阻
8.Trek610E高壓放大器:20kVDC/10kVAC輸出能力
9.Keithley2450源表:觸摸屏交互式IV特性曲線(xiàn)掃描系統(tǒng)
10.Fluke1587FC絕緣萬(wàn)用表:CATIV1000V安全等級(jí)雙功能測(cè)量
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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