參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.巖石礦物成分分析：石英含量（0.1%-100%）、長(zhǎng)石類型鑒別（鉀長(zhǎng)石/斜長(zhǎng)石）、暗色礦物占比（體積分?jǐn)?shù)）
2.結(jié)構(gòu)構(gòu)造檢測(cè)：顆粒粒徑分布（0.001-10mm）、層理傾角測(cè)量（0-900.5）、節(jié)理密度（條/m）
3.產(chǎn)狀要素測(cè)定：走向方位角（0-3601）、傾角精度（0.5）、傾向方位角誤差范圍
4.物理力學(xué)性質(zhì)測(cè)試：抗壓強(qiáng)度（5-300MPa）、孔隙度（0.1%-35%）、滲透率（10^-3-10^3mD）
5.地球化學(xué)指標(biāo)：主量元素含量（SiO?40%-75%）、微量元素檢出限（ppm級(jí)）、稀土元素配分模式

檢測(cè)范圍

1.火成巖類：花崗巖、玄武巖等侵入巖與噴出巖樣本
2.沉積巖類：砂巖、頁(yè)巖、灰?guī)r等碎屑/化學(xué)沉積巖
3.變質(zhì)巖類：片麻巖、大理巖等區(qū)域/接觸變質(zhì)巖
4.礦石標(biāo)本：金屬礦（銅/鐵礦等）與非金屬礦（螢石/重晶石等）
5.特殊地質(zhì)體：構(gòu)造角礫巖、礦化蝕變帶、古生物化石層

檢測(cè)方法

1.ASTMD5873-14巖石硬度現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方法
2.ISO14689-1:2017巖土工程勘察與測(cè)試規(guī)范
3.GB/T50266-2013工程巖體試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)
4.DZ/T0078-1993固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄規(guī)程
5.SY/T5368-2016巖石薄片鑒定技術(shù)規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.X射線衍射儀（PANalyticalX'PertPowder）：礦物成分定量分析
2.電子探針顯微分析儀（JEOLJXA-8530F）：微區(qū)元素面掃描
3.巖石力學(xué)試驗(yàn)機(jī)（GCTSRTR-1000）：三軸壓縮強(qiáng)度測(cè)試
4.偏光顯微鏡（LeicaDM2700P）：薄片結(jié)構(gòu)觀察（放大倍數(shù)40-1000X）
5.激光粒度分析儀（MalvernMastersizer3000）：碎屑顆粒級(jí)配測(cè)定
6.全站儀（LeicaTS16）：產(chǎn)狀要素高精度測(cè)量（角度精度1″）
7.X熒光光譜儀（ThermoScientificNitonXL5）：現(xiàn)場(chǎng)快速元素分析
8.孔隙度測(cè)定儀（CoretestAP-608）：氦氣法孔隙度測(cè)量
9.GPS定位系統(tǒng)（TrimbleR12）：采樣點(diǎn)坐標(biāo)定位（平面精度3mm）
10.紫外熒光燈（UVGL-58）：烴類物質(zhì)熒光檢測(cè)（波長(zhǎng)365nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)