橢球坐標檢測摘要:檢測項目1.長軸/短軸尺寸偏差:測量實際值與理論值的線性誤差范圍(0.05mm以內)2.曲率半徑一致性:驗證各象限點曲率半徑偏差(≤0.02mm)3.表面輪廓度:全周輪廓與理論模型的最大偏移量(≤0.03mm)4.形位公差:同軸度(≤φ0.01mm)、圓跳動(≤0.015mm)5.表面粗糙度:Ra值(0.4-1.6μm)、Rz值(3.2-12.5μm)檢測范圍1.金屬精密零件:航空航天發(fā)動機渦輪葉片、液壓閥芯等2.陶瓷結構件:半導體加工用真空吸盤、光學透鏡基座3.光學元件:非球面透鏡、激光反射鏡曲面4.高
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。
1.長軸/短軸尺寸偏差:測量實際值與理論值的線性誤差范圍(0.05mm以內)
2.曲率半徑一致性:驗證各象限點曲率半徑偏差(≤0.02mm)
3.表面輪廓度:全周輪廓與理論模型的最大偏移量(≤0.03mm)
4.形位公差:同軸度(≤φ0.01mm)、圓跳動(≤0.015mm)
5.表面粗糙度:Ra值(0.4-1.6μm)、Rz值(3.2-12.5μm)
1.金屬精密零件:航空航天發(fā)動機渦輪葉片、液壓閥芯等
2.陶瓷結構件:半導體加工用真空吸盤、光學透鏡基座
3.光學元件:非球面透鏡、激光反射鏡曲面
4.高分子材料制品:醫(yī)療導管成型模具、汽車燈具反射罩
5.復合材料構件:衛(wèi)星天線饋源組件、風電葉片連接法蘭
1.三坐標測量法:依據(jù)ISO10360-2標準建立基準坐標系,采用矢量點掃描技術獲取表面點云數(shù)據(jù)
2.激光干涉法:按GB/T16857.6進行動態(tài)輪廓掃描,分辨率達0.1μm
3.白光共焦法:遵循ASTME2544實現(xiàn)非接觸式表面形貌重建
4.數(shù)字圖像相關法:基于ISO22007-7標準進行全場應變分析
5.接觸式探針法:執(zhí)行GB/T18779.1規(guī)定的多截面輪廓測量程序
1.MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐標測量機:配備RENISHAWSP25M掃描探頭,空間精度(1.9+L/250)μm
2.ZeissO-INSPECT543復合式測量系統(tǒng):集成光學測頭與接觸式探針,重復精度0.8μm
3.KeyenceLJ-V7000系列激光輪廓儀:Z軸分辨率0.01μm,掃描速度12800剖面/秒
4.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀:主軸徑向誤差≤0.025μm,符合ISO12181標準
5.AliconaInfiniteFocusG5光學3D測量儀:垂直分辨率10nm,適用鏡面/漫反射表面
6.HexagonAbsoluteArm7-Axis便攜測量臂:空間精度0.025mm,支持動態(tài)跟蹤測量
7.NikonXTH450工業(yè)CT系統(tǒng):具備160kV微焦點射線源,體素分辨率<3μm
8.BrukerContourGT-K光學輪廓儀:20倍物鏡下橫向分辨率0.33μm
9.RenishawREVO五軸測量系統(tǒng):同步控制C軸與R軸進行復雜曲面掃描
10.GOMATOSQ三維掃描儀:采用藍光柵格投影技術,單幅測量點數(shù)400萬
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務。
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