參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.長軸/短軸尺寸偏差：測量實際值與理論值的線性誤差范圍（0.05mm以內）

2.曲率半徑一致性：驗證各象限點曲率半徑偏差（≤0.02mm）

3.表面輪廓度：全周輪廓與理論模型的最大偏移量（≤0.03mm）

4.形位公差：同軸度（≤φ0.01mm）、圓跳動（≤0.015mm）

5.表面粗糙度：Ra值（0.4-1.6μm）、Rz值（3.2-12.5μm）

檢測范圍

1.金屬精密零件：航空航天發(fā)動機渦輪葉片、液壓閥芯等

2.陶瓷結構件：半導體加工用真空吸盤、光學透鏡基座

3.光學元件：非球面透鏡、激光反射鏡曲面

4.高分子材料制品：醫(yī)療導管成型模具、汽車燈具反射罩

5.復合材料構件：衛(wèi)星天線饋源組件、風電葉片連接法蘭

檢測方法

1.三坐標測量法：依據(jù)ISO10360-2標準建立基準坐標系，采用矢量點掃描技術獲取表面點云數(shù)據(jù)

2.激光干涉法：按GB/T16857.6進行動態(tài)輪廓掃描，分辨率達0.1μm

3.白光共焦法：遵循ASTME2544實現(xiàn)非接觸式表面形貌重建

4.數(shù)字圖像相關法：基于ISO22007-7標準進行全場應變分析

5.接觸式探針法：執(zhí)行GB/T18779.1規(guī)定的多截面輪廓測量程序

檢測設備

1.MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐標測量機：配備RENISHAWSP25M掃描探頭，空間精度(1.9+L/250)μm

2.ZeissO-INSPECT543復合式測量系統(tǒng)：集成光學測頭與接觸式探針，重復精度0.8μm

3.KeyenceLJ-V7000系列激光輪廓儀：Z軸分辨率0.01μm，掃描速度12800剖面/秒

4.TaylorHobsonTalyrond585圓度儀：主軸徑向誤差≤0.025μm，符合ISO12181標準

5.AliconaInfiniteFocusG5光學3D測量儀：垂直分辨率10nm，適用鏡面/漫反射表面

6.HexagonAbsoluteArm7-Axis便攜測量臂：空間精度0.025mm，支持動態(tài)跟蹤測量

7.NikonXTH450工業(yè)CT系統(tǒng)：具備160kV微焦點射線源，體素分辨率＜3μm

8.BrukerContourGT-K光學輪廓儀：20倍物鏡下橫向分辨率0.33μm

9.RenishawREVO五軸測量系統(tǒng)：同步控制C軸與R軸進行復雜曲面掃描

10.GOMATOSQ三維掃描儀：采用藍光柵格投影技術，單幅測量點數(shù)400萬

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質