參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.溫度循環(huán)測試：-65℃~150℃溫度沖擊，循環(huán)次數(shù)≥1000次
2.恒定濕熱試驗：85℃/85%RH環(huán)境持續(xù)1000小時
3.機(jī)械振動測試：10Hz~2000Hz隨機(jī)振動譜，加速度15Grms
4.鹽霧腐蝕試驗：5%NaCl溶液連續(xù)噴霧96小時
5.高加速壽命試驗（HALT）：多軸振動+快速溫變復(fù)合應(yīng)力

檢測范圍

1.半導(dǎo)體器件：IGBT模塊、MCU芯片、存儲顆粒
2.金屬材料：航空鋁合金、鈦合金緊固件
3.高分子材料：PCB基材、密封橡膠件
4.汽車零部件：ECU控制器、線束連接器
5.醫(yī)療器械：植入式傳感器、手術(shù)機(jī)器人傳動部件

檢測方法

1.ASTMF1980-21加速老化試驗標(biāo)準(zhǔn)方法
2.IEC60068-2-14環(huán)境試驗第2部分：溫度變化試驗
3.ISO16750-3道路車輛電氣電子設(shè)備環(huán)境條件
4.GB/T2423.17-2008鹽霧試驗方法
5.MIL-STD-810H軍用設(shè)備環(huán)境工程考慮事項

檢測設(shè)備

1.ESPECTSE-11A三綜合試驗箱（溫濕度+振動復(fù)合）
2.ThermotronSM-32-20快速溫變箱（25℃/min變溫速率）
3.LANSMENTDC-3000-3三軸振動試驗系統(tǒng)（最大推力3000kgf）
4.Q-FOGCRH2200循環(huán)腐蝕鹽霧箱（CCT/Prohesion模式）
5.KeysightB1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（0.1fA~1A測量精度）
6.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡（5000倍失效定位分析）
7.FLIRA700紅外熱像儀（-40℃~2000℃溫度場監(jiān)測）
8.HBMGenesisHighSpeed64通道數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
9.ZwickZ100萬能材料試驗機(jī)（100kN載荷精度）
10.Agilent4294A阻抗分析儀（40Hz~110MHz頻響測試）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)