參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.紋路密度：測(cè)量單位面積內(nèi)粟紋數(shù)量（5-50條/mm）
2.深度分布：單紋最大深度（0.5-15μm），平均深度偏差≤0.3μm
3.寬度變異系數(shù)：單紋寬度離散度CV值≤15%
4.形態(tài)分類指數(shù)：圓形度≥0.7的粟紋占比＞80%
5.表面粗糙度Ra值：缺陷區(qū)域Ra≤0.8μm（拋光件）或Ra≤3.2μm（粗加工件）

檢測(cè)范圍

1.冷軋不銹鋼板（厚度0.1-5mm）
2.鋁合金壓鑄件（ADC12/ALSi9Cu3材質(zhì)）
3.硬質(zhì)合金刀具（WC-Co系燒結(jié)體）
4.陶瓷基復(fù)合材料（SiC/SiC體系）
5.鈦合金精密鑄件（TC4/TC11牌號(hào)）

檢測(cè)方法

1.ASTME112-13：晶粒度測(cè)定法擴(kuò)展應(yīng)用于紋理統(tǒng)計(jì)
2.ISO25178-2:2022：非接觸式三維表面形貌分析
3.GB/T6394-2017：金屬平均晶粒度測(cè)定方法
4.GB/T10610-2009：觸針式表面粗糙度測(cè)量規(guī)范
5.JISH8686-2:2013：陽極氧化膜顯微硬度測(cè)試法

檢測(cè)設(shè)備

1.奧林巴斯DSX1000數(shù)碼顯微鏡（5000放大倍率，三維形貌重建）
2.泰勒霍普森TalysurfCCILite非接觸式輪廓儀（分辨率0.1nm）
3.KEYENCEVHX-7000超景深顯微系統(tǒng)（20mm20mm視場(chǎng)拼接）
4.蔡司Sigma300掃描電鏡（SE/BSE雙探頭成像）
5.三豐SJ-410表面粗糙度儀（16μm量程，0.01μm分辨率）
6.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀（1nm垂直分辨率）
7.島津HMV-G21ST顯微硬度計(jì)（10gf-2kgf載荷范圍）
8.尼康ECLIPSELV150金相顯微鏡（微分干涉對(duì)比功能）
9.海克斯康OptivPerformance影像測(cè)量儀（多光譜照明系統(tǒng)）
10.FEIQuanta250FEG環(huán)境掃描電鏡（低真空模式觀測(cè)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)