參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.純度分析：主成分PrF?含量≥99.5%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)），采用差減法計算非稀土雜質(zhì)總量
2.氟含量測定：理論氟含量29.8%，允許偏差0.3%
3.雜質(zhì)元素分析：Fe≤50ppm、Si≤30ppm、Ca≤20ppm（ICP-MS法）
4.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD驗證立方晶系（空間群Fm-3m），晶格常數(shù)a=5.850.02
5.熱穩(wěn)定性測試：TG-DSC聯(lián)用分析分解溫度＞800℃（N?氣氛）

檢測范圍

1.稀土功能材料：激光晶體基材、磁致冷合金前驅(qū)體
2.核工業(yè)涂層材料：中子吸收涂層原料
3.光學(xué)鍍膜材料：紫外波段增透膜制備原料
4.催化劑前驅(qū)體：甲烷重整反應(yīng)催化劑載體
5.高溫陶瓷復(fù)合材料：耐腐蝕結(jié)構(gòu)件燒結(jié)添加劑

檢測方法

1.ASTMC1234-18《稀土化合物中非稀土雜質(zhì)測定規(guī)范》
2.ISO11876:2010《稀土金屬及其化合物—氟含量的測定》
3.GB/T12690.5-2021《稀土金屬及其氧化物化學(xué)分析方法第5部分：氟量的測定》
4.ISO14720-1:2013《陶瓷原料中硫的測定—第1部分：燃燒法》
5.GB/T20127.7-2021《金屬材料痕量元素含量的測定第7部分：ICP-MS法》

檢測設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMax波長色散X射線熒光光譜儀（元素定量分析）
2.Agilent7900電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（痕量雜質(zhì)測定）
3.RigakuSmartLabX射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)解析）
4.NetzschSTA449F5同步熱分析儀（熱穩(wěn)定性測試）
5.Metrohm888Titrando自動電位滴定儀（氟離子定量）
6.PerkinElmerOptima8300電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（主量元素分析）
7.MalvernMastersizer3000激光粒度分析儀（粉末粒度分布）
8.BrukerVertex80v傅里葉變換紅外光譜儀（官能團(tuán)鑒定）
9.JEOLJSM-7900F場發(fā)射掃描電鏡（微觀形貌觀測）
10.MettlerToledoXPR6U超微量天平（稱量精度0.001mg）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)