參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

1.等離子體溫度測量：通過Boltzmann圖法計算溫度梯度（5000-20000K）
2.電子密度分析：Stark展寬法測定（110¹⁸-510²⁰cm^-3）
3.元素成分定量：LIBS技術實現ppm級檢出限
4.空間分布特性：二維成像系統分辨率≤20μm
5.時間演化特征：高速ICCD相機（2ns時間分辨率）

檢測范圍

1.金屬材料：鋁合金（AA6061）、鈦合金（Ti-6Al-4V）、高溫合金（Inconel718）
2.半導體材料：硅晶圓（摻雜濃度110¹⁵-110¹⁹cm^-3）、GaN薄膜
3.涂層體系：熱障涂層（YSZ厚度50-300μm）、DLC薄膜
4.地質樣品：玄武巖SiO₂含量（45-52wt.%）、月壤模擬物
5.生物組織：牙齒鈣磷比（1.670.03）、骨密度分布

檢測方法

ASTME3061-17《激光誘導擊穿光譜標準測試方法》
ISO21258:2010《表面化學分析-輝光放電發(fā)射光譜法》
GB/T38256-2019《激光誘導擊穿光譜法多元素分析通則》
ISO18516:2022《表面化學分析-輝光放電質譜法》
GB/T40111-2021《火花放電原子發(fā)射光譜法通則》

檢測設備

1.Nd:YAG激光器（QuantelQ-smart850）：脈寬6ns@1064nm
2.ICCD相機（AndoriStar334T）：18mm像面@1600400像素
3.光譜儀（OceanOpticsHR4000）：分辨率0.1nm@200-1100nm
4.XYZ三維平臺（AerotechANT130）：定位精度0.5μm
5.真空腔體（PfeifferHiCube80Eco）：極限真空510^-6mbar
6.能量計（OphirPE50-DIF-C）：測量范圍20μJ-50J
7.顯微物鏡（MitutoyoMPlanApo50）：NA=0.42WD=13mm
8.氣體控制系統（MKS647C）：流量精度0.8%F.S.
9.溫控樣品臺（LinkamTS1500）：控溫范圍-196C~600C
10.數據處理系統（LIBS++軟件）：支持PLS/PCA算法建模

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質