參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.晶粒尺寸測定：測量α/β相平均晶粒直徑（范圍0.5-50μm），依據(jù)ASTME112標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算晶粒度級別（G值）

2.相組成比例分析：定量α相與β相的體積分?jǐn)?shù)（精度1.5%），采用圖像分析法與XRDRietveld精修結(jié)合

3.元素偏析度檢測：測定Cr、Mo、Ni等合金元素的局部濃度偏差（分辨率≤0.5μm）

4.位錯密度計(jì)算：通過TEM明場像分析位錯線密度（單位10^14m^-2）

5.織構(gòu)系數(shù)測定：采用EBSD技術(shù)獲取極圖與反極圖數(shù)據(jù)（步長0.1-0.5μm）

檢測范圍

1.鈦基合金：TC4（Ti-6Al-4V）、TA15等航空航天用材料

2.高溫合金：Inconel718、GH4169等渦輪盤材料

3.不銹鋼系列：316L、2205雙相不銹鋼的α/γ相分析

4.鋁合金：7075-T6、2024-T3時(shí)效硬化型合金

5.金屬基復(fù)合材料：SiC顆粒增強(qiáng)鋁基復(fù)合材料界面相表征

檢測方法

1.ASTME407-07：微蝕刻金相試樣制備規(guī)程（硝酸乙醇溶液配比1:3）

2.ISO643:2019：鋼的奧氏體晶粒度測定方法（截距法/面積法）

3.GB/T13298-2015：金屬顯微組織檢驗(yàn)方法（500~1000觀測倍率）

4.ASTME1245-03：自動圖像分析法測定夾雜物含量（灰度閾值設(shè)定5%）

5.GB/T13305-2008：奧氏體不銹鋼中α相面積含量測定（鐵素體測定儀法）

檢測設(shè)備

1.JEOLJSM-7900F場發(fā)射掃描電鏡：配備OxfordX-MaxN150能譜儀，空間分辨率1nm@15kV

2.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：Cu靶Kα輻射（λ=1.5406），角度精度0.0001

3.LeicaDM2700M金相顯微鏡：配置LASX軟件系統(tǒng)，最大放大倍數(shù)1000

4.TESCANCLARA超高分辨電鏡：配備EBSD探測器，取向成像分辨率≤10nm

5.ShimadzuHMV-G21顯微硬度計(jì)：載荷范圍10gf~1kgf（HV標(biāo)尺）

6.NetzschDIL402C熱膨脹儀：溫度范圍RT~1600℃，膨脹量分辨率0.125nm

7.OxfordInstrumentsAztecLiveEDS系統(tǒng)：元素分析范圍Be~Pu，探測限0.1wt%

8.Gatan653精密離子減薄儀：加速電壓1~6kV，用于TEM樣品制備

9.ZEISSAxioImager.A2m自動金相系統(tǒng)：配備多孔位樣品臺（最大承載Φ100mm）

10.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平臺：配置高溫附件（最高1600℃原位分析）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)