符合與反符合檢測摘要:檢測項(xiàng)目1.能量分辨率:采用137Cs源測試662keV特征峰FWHM值(NaI(Tl)探測器≤7%)2.時(shí)間響應(yīng)特性:測量上升時(shí)間(≤5ns)與符合時(shí)間窗穩(wěn)定性(0.2ns)3.本底計(jì)數(shù)率:鉛屏蔽室內(nèi)測量單位時(shí)間誤觸發(fā)次數(shù)(<10cps)4.符合時(shí)間窗調(diào)節(jié):驗(yàn)證2-50ns范圍內(nèi)延遲補(bǔ)償精度(0.5ns)5.反符合效率:通過雙探頭系統(tǒng)測定干擾信號抑制率(≥99.5%)檢測范圍1.閃爍體探測器:NaI(Tl)、BGO、LYSO晶體組件2.半導(dǎo)體探測器:HPGe探測器、Si(Li)鋰漂移型探測器3.光
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
1.能量分辨率:采用137Cs源測試662keV特征峰FWHM值(NaI(Tl)探測器≤7%)
2.時(shí)間響應(yīng)特性:測量上升時(shí)間(≤5ns)與符合時(shí)間窗穩(wěn)定性(0.2ns)
3.本底計(jì)數(shù)率:鉛屏蔽室內(nèi)測量單位時(shí)間誤觸發(fā)次數(shù)(<10cps)
4.符合時(shí)間窗調(diào)節(jié):驗(yàn)證2-50ns范圍內(nèi)延遲補(bǔ)償精度(0.5ns)
5.反符合效率:通過雙探頭系統(tǒng)測定干擾信號抑制率(≥99.5%)
1.閃爍體探測器:NaI(Tl)、BGO、LYSO晶體組件
2.半導(dǎo)體探測器:HPGe探測器、Si(Li)鋰漂移型探測器
3.光電倍增管:濱松R9800/R6231系列光陰極組件
4.核醫(yī)學(xué)成像設(shè)備:PET/SPECT系統(tǒng)前端電子學(xué)模塊
5.環(huán)境輻射監(jiān)測儀:高壓電離室及液體閃爍體譜儀
1.ASTME181-17:輻射探測器標(biāo)準(zhǔn)測試規(guī)程
2.ISO4037-1:2019:X/γ參考輻射校準(zhǔn)規(guī)范
3.GB/T12162.1-2020:X和γ參考輻射技術(shù)要求
4.GB/T13179-2021:閃爍體探測器測試方法
5.ISO20031:2020:環(huán)境監(jiān)測儀器性能驗(yàn)證程序
1.ORTECModel926MC多道分析器:4096道脈沖幅度分析
2.AgilentU5303A高速示波器:20GHz帶寬時(shí)間測量系統(tǒng)
3.Canberra3106D低本底計(jì)數(shù)器:鉛鋼復(fù)合屏蔽結(jié)構(gòu)
4.CAENDT5724數(shù)字化采集系統(tǒng):14bit/250MSPS采樣率
5.AmptekXR-100TCdTe探測器:4-150keV能段校準(zhǔn)源
6.HAMAMATSUC12301延遲發(fā)生器:50ns可調(diào)時(shí)基模塊
7.FLIRSC6703紅外熱像儀:電子學(xué)模塊溫升監(jiān)測
8.KeysightN6705C直流電源:四通道精密供電系統(tǒng)
9.ThermoScientificFH40G-L10環(huán)境劑量儀:μSv/h級靈敏度
10.BrukerS4PIONEERXRF光譜儀:材料組分快速篩查
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析符合與反符合檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師
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