參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.能量分辨率：采用¹³⁷Cs源測試662keV特征峰FWHM值（NaI(Tl)探測器≤7%）
2.時(shí)間響應(yīng)特性：測量上升時(shí)間（≤5ns）與符合時(shí)間窗穩(wěn)定性（0.2ns）
3.本底計(jì)數(shù)率：鉛屏蔽室內(nèi)測量單位時(shí)間誤觸發(fā)次數(shù)（<10cps）
4.符合時(shí)間窗調(diào)節(jié)：驗(yàn)證2-50ns范圍內(nèi)延遲補(bǔ)償精度（0.5ns）
5.反符合效率：通過雙探頭系統(tǒng)測定干擾信號抑制率（≥99.5%）

檢測范圍

1.閃爍體探測器：NaI(Tl)、BGO、LYSO晶體組件
2.半導(dǎo)體探測器：HPGe探測器、Si(Li)鋰漂移型探測器
3.光電倍增管：濱松R9800/R6231系列光陰極組件
4.核醫(yī)學(xué)成像設(shè)備：PET/SPECT系統(tǒng)前端電子學(xué)模塊
5.環(huán)境輻射監(jiān)測儀：高壓電離室及液體閃爍體譜儀

檢測方法

1.ASTME181-17：輻射探測器標(biāo)準(zhǔn)測試規(guī)程
2.ISO4037-1:2019：X/γ參考輻射校準(zhǔn)規(guī)范
3.GB/T12162.1-2020：X和γ參考輻射技術(shù)要求
4.GB/T13179-2021：閃爍體探測器測試方法
5.ISO20031:2020：環(huán)境監(jiān)測儀器性能驗(yàn)證程序

檢測設(shè)備

1.ORTECModel926MC多道分析器：4096道脈沖幅度分析
2.AgilentU5303A高速示波器：20GHz帶寬時(shí)間測量系統(tǒng)
3.Canberra3106D低本底計(jì)數(shù)器：鉛鋼復(fù)合屏蔽結(jié)構(gòu)
4.CAENDT5724數(shù)字化采集系統(tǒng)：14bit/250MSPS采樣率
5.AmptekXR-100TCdTe探測器：4-150keV能段校準(zhǔn)源
6.HAMAMATSUC12301延遲發(fā)生器：50ns可調(diào)時(shí)基模塊
7.FLIRSC6703紅外熱像儀：電子學(xué)模塊溫升監(jiān)測
8.KeysightN6705C直流電源：四通道精密供電系統(tǒng)
9.ThermoScientificFH40G-L10環(huán)境劑量儀：μSv/h級靈敏度
10.BrukerS4PIONEERXRF光譜儀：材料組分快速篩查

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)