參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

光柵常數(shù)測量：檢測精度±0.01μm，測量范圍10-10000線/mm（ISO 10110-5）

刻線間距均勻性：最大偏差≤0.5μm/m，檢測分辨率0.1μm（GB/T 1800-2009）

表面粗糙度：Ra值檢測范圍0.01-10μm，精度±5%（ASTM E112）

角度偏差：測量角度范圍±0.1°，誤差控制0.001°（ISO 230-2）

衍射效率：在波長400-700nm下測量，效率偏差±2%（ASTM E903）

透射率/反射率：光譜范圍190-2500nm，檢測精度0.5%（GB/T 2680）

材料硬度：維氏硬度HV測量，載荷范圍0.1-10kg，精度±1%（ISO 6507）

熱膨脹系數(shù)：溫度范圍-40°C至+150°C，膨脹率檢測精度0.1ppm/K（GB/T 4339）

環(huán)境穩(wěn)定性：濕度測試范圍10-90%RH，溫度循環(huán)-20°C至+85°C（IEC 60068-2）

使用壽命測試：循環(huán)次數(shù)≥10^6次，疲勞壽命評估（ISO 12107）

線寬誤差：檢測分辨率0.05μm，最大允許誤差±0.2μm（GB/T 13962）

平面度偏差：測量精度0.1μm/m，平面度范圍±5μm（ISO 12780）

光學(xué)均勻性：折射率變化≤0.0001，檢測波長632.8nm（ASTM F1044）

抗刮擦性能：載荷范圍1-10N，劃痕深度檢測精度0.01μm（ISO 1518）

化學(xué)耐蝕性：暴露于酸堿溶液，腐蝕率測量精度0.01mg/cm2（GB/T 10125）

檢測范圍

光學(xué)編碼器光柵：用于高精度位置反饋系統(tǒng)，材料包括玻璃或石英基板

計量光柵尺：應(yīng)用于坐標(biāo)測量機和數(shù)控機床，尺寸范圍100mm-2000mm

光譜儀衍射光柵：涵蓋紫外至紅外波段，光柵常數(shù)200-2400線/mm

激光干涉儀組件：集成于位移測量系統(tǒng)，基底材料為熔融石英

精密機械零件光柵：用于齒輪和軸承定位，材質(zhì)包括不銹鋼或陶瓷

半導(dǎo)體制造光掩模：光刻工藝用光柵，特征尺寸≤0.1μm

顯微鏡光柵組件：生物和材料顯微鏡應(yīng)用，透射型或反射型設(shè)計

光通信器件光柵：如波分復(fù)用器，波長范圍1260-1620nm

顯示技術(shù)光柵：用于投影和AR/VR設(shè)備，像素密度≥500ppi

航空航天傳感器光柵：耐極端環(huán)境，溫度適應(yīng)-55°C至+125°C

汽車編碼器光柵：發(fā)動機和傳動系統(tǒng)監(jiān)測，抗震性能測試

醫(yī)療成像光柵：X射線或光學(xué)成像設(shè)備，生物兼容材料

消費電子產(chǎn)品光柵：如掃描儀和打印機，厚度≤1mm

科研實驗光柵：實驗室標(biāo)準(zhǔn)具，可定制尺寸和參數(shù)

工業(yè)自動化光柵：生產(chǎn)線位置檢測，防護等級IP65以上

檢測方法

激光干涉法：依據(jù)ISO 10110-5測量光柵常數(shù)和平面度

衍射效率分析法：采用ASTM E903標(biāo)準(zhǔn)評估光柵光學(xué)性能

顯微成像技術(shù)：基于GB/T 1800-2009進行刻線均勻性檢測

光譜透射/反射測量：遵循ISO 14707標(biāo)準(zhǔn)測定波長相關(guān)特性

環(huán)境試驗方法：按GB/T 2423系列執(zhí)行溫濕度循環(huán)測試

硬度測試法：依據(jù)ISO 6507使用維氏硬度計評估材料強度

熱膨脹系數(shù)測量：按GB/T 4339標(biāo)準(zhǔn)進行溫度變化分析

疲勞壽命評估：遵循ISO 12107進行機械循環(huán)測試

表面輪廓掃描：基于GB/T 18778.2使用非接觸式輪廓儀

電子顯微鏡檢測：依據(jù)ASTM E1508分析微觀結(jié)構(gòu)

化學(xué)暴露測試：按GB/T 10125標(biāo)準(zhǔn)評估耐腐蝕性

角度偏差測量：采用ISO 230-2規(guī)范使用自準(zhǔn)直儀

線寬誤差分析：基于GB/T 13962進行高分辨率成像

光學(xué)均勻性檢測：遵循ASTM F1044使用干涉儀

抗刮擦性能測試：按ISO 1518標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行劃痕實驗

檢測設(shè)備

Zygo GPI-XP/D干涉儀：用于表面形貌和平面度測量，垂直分辨率0.1nm

Olympus BX53顯微鏡：高倍率成像系統(tǒng)，放大倍數(shù)50-1000X

Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡：3D表面分析功能，景深擴展技術(shù)

Mitutoyo SJ-411表面粗糙度儀：檢測范圍Ra 0.01-50μm，精度±2%

Agilent Cary 7000紫外可見近紅外光譜儀：波長范圍190-2500nm，帶寬1nm

Instron 5967萬能材料試驗機：載荷范圍0-50kN，應(yīng)變測量精度0.5%

Bruker ContourGT-K光學(xué)輪廓儀：非接觸式測量，掃描速度10mm/s

Zeiss LSM 900激光掃描顯微鏡：共聚焦成像，分辨率0.2μm

Shimadzu UV-2600分光光度計：透射率檢測，積分球附件支持

Thermo Scientific DSC 3差示掃描量熱儀：溫度范圍-180°C至+700°C，靈敏度0.2μW

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)