片狀層壓板檢測(cè)摘要:片狀層壓板檢測(cè)聚焦覆銅箔層壓板(CCL)及成品基材的綜合性能評(píng)估,核心檢測(cè)對(duì)象涵蓋樹脂基體、增強(qiáng)材料及銅箔界面。關(guān)鍵技術(shù)項(xiàng)目包括層間結(jié)合強(qiáng)度(≥1.4N/mm)、熱分層時(shí)間(T288≥20min)、介電常數(shù)(Dk±0.05@1GHz)等關(guān)鍵參數(shù),通過力學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)及環(huán)境可靠性多維測(cè)試確保材料在PCB制造中的加工適用性與終端產(chǎn)品服役穩(wěn)定性。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
力學(xué)性能:
1.FR-4環(huán)氧玻璃布基板:檢測(cè)重點(diǎn)為多層板壓合后的Tg保持率及高厚徑比孔壁分離強(qiáng)度
2.高溫層壓板(聚酰亞胺/PI):側(cè)重Z軸CTE控制(≤40ppm/℃)及高溫下介電穩(wěn)定性
3.高頻層壓板(PTFE/陶瓷填料):核心檢測(cè)Dk/Df頻率特性曲線及相位穩(wěn)定性
4.金屬基覆銅板(鋁基板):重點(diǎn)驗(yàn)證導(dǎo)熱系數(shù)(≥1.5W/mK)及絕緣層耐壓性能
5.柔性基材(聚酯/PET):評(píng)估動(dòng)態(tài)彎曲壽命(>10000次)與耐折強(qiáng)度衰減率
6.無鹵素環(huán)?;澹?/strong>溴/氯含量檢測(cè)(≤900ppm)及燃燒毒性氣體分析
7.高JianCe板材(JianCe≥600V):耐電痕化指數(shù)驗(yàn)證(IEC60112)及潮濕環(huán)境絕緣阻抗
8.陶瓷填充基板:檢測(cè)熱導(dǎo)率(≥2.0W/mK)及高頻段介電損耗角正切
9.紙基酚醛層壓板:重點(diǎn)控制吸水率(≤0.5%)及沖孔加工性
10.特種復(fù)合基板(CEM系列):驗(yàn)證芯料與面料的膨脹系數(shù)匹配性及界面結(jié)合強(qiáng)度
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
方法差異說明:IPC標(biāo)準(zhǔn)采用英制單位體系(如mil厚度單位),而GB/T強(qiáng)制使用公制單位;ASTMD618與GB/T2918在溫濕度預(yù)處理?xiàng)l件上存在±2℃偏差;IEC60243與GB/T1408電極尺寸規(guī)格不同。
1.萬能材料試驗(yàn)機(jī):INSTRON5967型(載荷0.05-30kN,位移精度±0.5μm)
2.高頻網(wǎng)絡(luò)分析儀:KeysightN5227B(頻率范圍10MHz-67GHz,支持TRL校準(zhǔn))
3.DSC熱分析儀:TAQ2000(溫度范圍-90~725℃,靈敏度0.1μW)
4.TMA熱機(jī)械分析儀:NETZSCHDIL402(膨脹分辨率0.125nm,控溫速率0.001-50K/min)
5.阻抗分析儀:Agilent4294A(測(cè)試頻率40Hz-110MHz,基本精度0.08%)
6.金相顯微鏡:OlympusMX63(最大放大倍數(shù)1500X,帶微分干涉功能)
7.氙燈老化箱:Q-LABXe-3(光譜范圍300-400nm,輻照度0.55W/m2)
8.垂直燃燒測(cè)試儀:JianCe94認(rèn)證型(火焰高度20mm,施加時(shí)間10±0.5s)
9.離子色譜儀:ThermoICS-600(陰離子檢測(cè)限≤0.1ppb)
10.激光導(dǎo)熱儀:NETZSCHLFA467(測(cè)試范圍0.1-2000mm2/s,溫度-120-2000℃)
11.三維表面輪廓儀:BrukerContourGT-K(垂直分辨率0.1nm,掃描范圍10×10mm)
12.恒溫恒濕箱:ESPECPL-3KPH(溫度范圍-70~150℃,濕度10-98%RH)
13.六站冷熱沖擊箱:TERCHYTSB-52(轉(zhuǎn)換時(shí)間<10s,溫區(qū)-65~150℃)
14.高壓擊穿測(cè)試儀:Hipotronics40kV(升壓速率0.1-3kV/s,精度±1%)
15.高頻諧振腔:SPDR測(cè)試系統(tǒng)(Q值>5000,頻段1-10GHz)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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