X射線熒光光譜分析摘要:X射線熒光光譜分析(XRF)是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù),通過(guò)X射線源激發(fā)樣品產(chǎn)生特征熒光,探測(cè)器測(cè)量能量或波長(zhǎng)以定量元素組成。核心檢測(cè)對(duì)象包括固體、粉末或液體材料中的金屬、礦物和環(huán)境污染物。關(guān)鍵項(xiàng)目涵蓋主量元素(如Fe、Ca)和微量元素(如Pb、Cd)的濃度分析,檢測(cè)限達(dá)ppm級(jí),支持快速質(zhì)量控制和研究應(yīng)用。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
金屬元素分析:
1.鋼鐵材料:涵蓋碳鋼、合金鋼和不銹鋼,重點(diǎn)檢測(cè)Cr、Ni元素偏差和夾雜物
2.有色金屬合金:包括鋁合金、銅合金和鈦合金,側(cè)重主量元素精度和雜質(zhì)控制
3.環(huán)境土壤:針對(duì)污染場(chǎng)地,聚焦Pb、Cd、As重金屬積累監(jiān)測(cè)
4.礦物礦石:涵蓋鐵礦石、銅礦石和金礦,重點(diǎn)分析主元素品位和伴生元素
5.塑料制品:包括包裝材料和工程塑料,檢測(cè)溴化阻燃劑和重金屬添加劑
6.涂料涂層:針對(duì)工業(yè)涂料和顏料,側(cè)重Ti、Zn、Cr成分均勻性
7.食品包裝:涵蓋金屬罐和塑料膜,重點(diǎn)監(jiān)測(cè)Pb、Cd遷移殘留
8.電子元器件:包括電路板和連接器,聚焦RoHS有害物質(zhì)限量
9.地質(zhì)巖芯:針對(duì)勘探樣品,側(cè)重U、Th、稀土元素分布
10.廢棄物:包括固體廢物和污泥,重點(diǎn)分析重金屬回收率
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
1.波長(zhǎng)色散XRF光譜儀:RigakuZSXPrimusII(分辨率≤40eV)
2.能量色散XRF分析儀:ThermoScientificNitonXL3t(檢測(cè)元素NatoU)
3.臺(tái)式XRF設(shè)備:BrukerS8TIGER(精度±0.01%)
4.手持XRF檢測(cè)器:OlympusVanta(檢測(cè)限0.1ppm)
5.實(shí)驗(yàn)室XRF系統(tǒng):ShimadzuEDX-8000(樣品室尺寸200mm)
6.多元素XRF分析儀:PANalyticalAxios(激發(fā)電壓60kV)
7.便攜式XRF設(shè)備:HitachiX-MET8000(重量1.5kg)
8.高分辨率XRF儀:RigakuZSXPrimusIV(檢測(cè)速度≤30秒)
9.環(huán)境專用XRF系統(tǒng):ThermoScientificARLQUANT'X(動(dòng)態(tài)范圍10^6)
10.礦物分析XRF儀:BrukerS6JAGUAR(軟件兼容地質(zhì)數(shù)據(jù)庫(kù))
11.食品安全XRF設(shè)備:OlympusDelta(校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)GSP)
12.塑料檢測(cè)XRF儀:ShimadzuEDX-7000(檢測(cè)限0.5ppm)
13.電子器件XRF分析儀:HitachiEA1400(RoHS合規(guī)模式)
14.土壤專用XRF檢測(cè)器:NitonXL2(GPS定位功能)
15.研究級(jí)XRF光譜儀:PANalyticalEpsilon(真空系統(tǒng)優(yōu)化)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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