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X射線熒光光譜分析

2025-06-16 關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜分析測(cè)試周期,X射線熒光光譜分析測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),X射線熒光光譜分析測(cè)試儀器 相關(guān):
X射線熒光光譜分析

X射線熒光光譜分析摘要:X射線熒光光譜分析(XRF)是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù),通過(guò)X射線源激發(fā)樣品產(chǎn)生特征熒光,探測(cè)器測(cè)量能量或波長(zhǎng)以定量元素組成。核心檢測(cè)對(duì)象包括固體、粉末或液體材料中的金屬、礦物和環(huán)境污染物。關(guān)鍵項(xiàng)目涵蓋主量元素(如Fe、Ca)和微量元素(如Pb、Cd)的濃度分析,檢測(cè)限達(dá)ppm級(jí),支持快速質(zhì)量控制和研究應(yīng)用。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

金屬元素分析:

  • 鐵含量:Fe濃度≥98.5%(參照ISO9516)
  • 銅含量:Cu精度±0.03wt%(檢測(cè)限0.001%)
  • 鋁含量:Al偏差≤0.05%
合金成分檢測(cè):
  • 不銹鋼鉻鎳比:Cr/Ni≥1.5(參照GB/T223)
  • 鈦合金釩含量:V濃度10-15wt%
  • 鋁合金硅含量:Si≤12.0%
環(huán)境污染物監(jiān)測(cè):
  • 鉛污染:Pb≤100ppm(參照EPA6200)
  • 鎘含量:Cd檢測(cè)限0.5ppm
  • 汞濃度:Hg精度±0.1ppm
礦物組分分析:
  • 石英硅含量:SiO2≥95.0%
  • 鐵礦鐵品位:TFe≥62.0%
  • 銅礦銅含量:Cu≥0.5%
塑料添加劑檢測(cè):
  • 溴化阻燃劑:Br濃度≥500ppm
  • 鉛穩(wěn)定劑:Pb≤50ppm
  • 鎘顏料:Cd檢測(cè)限1ppm
涂料成分分析:
  • 鈦白粉含量:TiO2≥90.0%
  • 鋅防銹劑:Zn濃度5-10wt%
  • 鉻顏料:Cr偏差±0.1%
土壤重金屬檢測(cè):
  • 砷污染:As≤40ppm(參照GB15618)
  • 鎳含量:Ni精度±0.05ppm
  • 銅積累:Cu監(jiān)測(cè)限0.1ppm
食品添加劑分析:
  • 鐵強(qiáng)化劑:Fe濃度50-100ppm
  • 鋅營(yíng)養(yǎng)劑:Zn≥10ppm
  • 鉛殘留:Pb≤0.1ppm
電子產(chǎn)品有害物質(zhì):
  • 鉛焊料:Pb≤0.1%(參照RoHS)
  • 鎘鍍層:Cd檢測(cè)限0.01%
  • 汞電池:Hg濃度≤5ppm
地質(zhì)樣品元素分布:
  • 鈾含量:U≥100ppm
  • 釷濃度:Th精度±2ppm
  • 稀土元素:La檢測(cè)限0.5ppm

檢測(cè)范圍

1.鋼鐵材料:涵蓋碳鋼、合金鋼和不銹鋼,重點(diǎn)檢測(cè)Cr、Ni元素偏差和夾雜物

2.有色金屬合金:包括鋁合金、銅合金和鈦合金,側(cè)重主量元素精度和雜質(zhì)控制

3.環(huán)境土壤:針對(duì)污染場(chǎng)地,聚焦Pb、Cd、As重金屬積累監(jiān)測(cè)

4.礦物礦石:涵蓋鐵礦石、銅礦石和金礦,重點(diǎn)分析主元素品位和伴生元素

5.塑料制品:包括包裝材料和工程塑料,檢測(cè)溴化阻燃劑和重金屬添加劑

6.涂料涂層:針對(duì)工業(yè)涂料和顏料,側(cè)重Ti、Zn、Cr成分均勻性

7.食品包裝:涵蓋金屬罐和塑料膜,重點(diǎn)監(jiān)測(cè)Pb、Cd遷移殘留

8.電子元器件:包括電路板和連接器,聚焦RoHS有害物質(zhì)限量

9.地質(zhì)巖芯:針對(duì)勘探樣品,側(cè)重U、Th、稀土元素分布

10.廢棄物:包括固體廢物和污泥,重點(diǎn)分析重金屬回收率

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):

  • ISO9516金屬礦石XRF定量方法(波長(zhǎng)色散優(yōu)先)
  • ASTMD4326環(huán)境樣品XRF分析(能量色散適用)
  • EPA6200土壤污染物XRF檢測(cè)(現(xiàn)場(chǎng)快速篩查)
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):
  • GB/T223鋼鐵XRF成分分析(校準(zhǔn)曲線差異)
  • GB15618土壤重金屬XRF方法(下限值較低)
  • GB/T31364塑料添加劑XRF檢測(cè)(樣品制備簡(jiǎn)化)

檢測(cè)設(shè)備

1.波長(zhǎng)色散XRF光譜儀:RigakuZSXPrimusII(分辨率≤40eV)

2.能量色散XRF分析儀:ThermoScientificNitonXL3t(檢測(cè)元素NatoU)

3.臺(tái)式XRF設(shè)備:BrukerS8TIGER(精度±0.01%)

4.手持XRF檢測(cè)器:OlympusVanta(檢測(cè)限0.1ppm)

5.實(shí)驗(yàn)室XRF系統(tǒng):ShimadzuEDX-8000(樣品室尺寸200mm)

6.多元素XRF分析儀:PANalyticalAxios(激發(fā)電壓60kV)

7.便攜式XRF設(shè)備:HitachiX-MET8000(重量1.5kg)

8.高分辨率XRF儀:RigakuZSXPrimusIV(檢測(cè)速度≤30秒)

9.環(huán)境專用XRF系統(tǒng):ThermoScientificARLQUANT'X(動(dòng)態(tài)范圍10^6)

10.礦物分析XRF儀:BrukerS6JAGUAR(軟件兼容地質(zhì)數(shù)據(jù)庫(kù))

11.食品安全XRF設(shè)備:OlympusDelta(校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)GSP)

12.塑料檢測(cè)XRF儀:ShimadzuEDX-7000(檢測(cè)限0.5ppm)

13.電子器件XRF分析儀:HitachiEA1400(RoHS合規(guī)模式)

14.土壤專用XRF檢測(cè)器:NitonXL2(GPS定位功能)

15.研究級(jí)XRF光譜儀:PANalyticalEpsilon(真空系統(tǒng)優(yōu)化)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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