參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

主量元素分析：

• 碳含量測(cè)定：總碳量≥99.97%（參照GB/T3521-2023）
• 灰分殘留：≤300ppm（ISO8005:2023）

• 金屬元素譜：Fe≤8ppm、Al≤5ppm、Ca≤3ppm（ASTMC1234-19）
• 非金屬雜質(zhì)：S≤0.5ppm、Cl≤0.2ppm（GB/T24582-2023）

• δ13C豐度比：-25‰至-28‰（ISO15366-2:2021）

• 熱膨脹系數(shù)：≤4.5×10??/K（元素雜質(zhì)影響驗(yàn)證）
• 電阻率：≤8μΩ·m（參照J(rèn)ISR7221:2020）

• 晶格畸變率：XRD半峰寬≤0.15°（ISO20203:2018）
• 孔隙分布：孔徑≤2μm占比≥90%（ASTMD4404-18）

• 氧吸附量：≤0.05wt%（高溫失重法）

• 中子吸收截面：≤3.5mb（核級(jí)專(zhuān)用）

• 氧化起始溫度：≥650℃（GB/T3074.1-2022）

• 酸溶出物：HF溶出率≤0.01%（ISO16153:2020）

• 抗壓強(qiáng)度：≥80MPa（雜質(zhì)相關(guān)性分析）

檢測(cè)范圍

1.核工業(yè)級(jí)石墨管：硼當(dāng)量控制≤0.1ppm，側(cè)重中子吸收截面與同位素一致性

2.高純熱解石墨管：碳純度≥99.995%，重點(diǎn)檢測(cè)金屬雜質(zhì)遷移率

3.等靜壓石墨管：各向異性比≤1.05，驗(yàn)證元素分布均勻性

4.涂層石墨管：硅/碳化硅涂層界面元素?cái)U(kuò)散深度≤5μm

5.單晶生長(zhǎng)用石墨管：鋁/鈦雜質(zhì)譜控制≤1ppm

6.光伏單晶爐熱場(chǎng)管：鈉/鉀元素總量≤0.3ppm

7.高溫?zé)Y(jié)爐用石墨管：硫元素引發(fā)表面氧化傾向評(píng)估

8.半導(dǎo)體擴(kuò)散爐管：重金屬元素（Cu/Ni）≤0.05ppm

9.真空熔煉石墨管：氧吸附誘發(fā)微裂紋敏感性測(cè)試

10.分析儀器用石墨管：灰分殘留對(duì)光譜背景干擾量化

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO21068-1:2022石墨材料碳含量測(cè)定（高頻燃燒法）
• ASTMC560-20石墨中氯元素測(cè)定（離子色譜法）
• ISO21587-3:2023電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）

• GB/T3521-2023石墨化學(xué)分析方法（主量元素差異：國(guó)標(biāo)采用紅外吸收法）
• GB/T24582-2023多晶硅用石墨件痕量元素檢測(cè)（相比ISO增加微波消解預(yù)處理）
• GB/T3074.1-2022石墨電極氧化性測(cè)定（恒溫失重法）

檢測(cè)設(shè)備

1.輝光放電質(zhì)譜儀：GD-MSVG9000型（檢出限0.001ppb）

2.高頻紅外碳硫儀：ELTRACS8000型（碳檢測(cè)精度±0.3ppm）

3.電感耦合等離子體光譜儀：PerkinElmerAvio550（波長(zhǎng)范圍165-782nm）

4.同位素質(zhì)譜儀：ThermoDeltaVAdvantage（δ13C精度±0.05‰）

5.X射線衍射儀：BrukerD8ADVANCE（角度精度±0.0001°）

6.電子探針顯微分析儀：JEOLJXA-8530F（空間分辨率0.1μm）

7.激光剝蝕系統(tǒng)：ESINWR213（剝蝕孔徑2-200μm）

8.熱重分析儀：NetzschSTA449F3（最高溫度1600℃）

9.離子色譜儀：Metrohm930（陰離子檢出限0.1ppb）

10.微波消解儀：MilestoneETHOSUP（壓力范圍0-200bar）

11.場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：ZeissGemini500（分辨率0.6nm）

12.氣體吸附儀：MicromeriticsASAP2460（孔徑分析0.35-500nm）

13.高溫電阻率儀：LinseisLSR-3（溫度范圍RT-1600℃）

14.原子吸收光譜儀：ShimadzuAA-7000（火焰/石墨爐雙模式）

15.同步熱分析儀：MettlerTGA/DSC3+（氣氛控制純度99.999%）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)