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電子設(shè)備外殼靜電放電檢測(cè)

2025-07-22 關(guān)鍵詞:電子設(shè)備外殼靜電放電測(cè)試儀器,電子設(shè)備外殼靜電放電測(cè)試范圍,電子設(shè)備外殼靜電放電測(cè)試機(jī)構(gòu) 相關(guān):
電子設(shè)備外殼靜電放電檢測(cè)

電子設(shè)備外殼靜電放電檢測(cè)摘要:電子設(shè)備外殼靜電放電檢測(cè)是針對(duì)電子設(shè)備外殼材料在靜電環(huán)境下的防護(hù)性能進(jìn)行的專業(yè)測(cè)試。核心檢測(cè)對(duì)象包括塑料、金屬等外殼組件,關(guān)鍵項(xiàng)目涉及靜電放電電壓(±2kV至±30kV范圍)、放電電流峰值(如8kV接觸放電時(shí)電流≥30A)、放電波形上升時(shí)間(≤1ns)、表面電阻(≥10^9 Ω)等參數(shù),依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2和國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.2,確保外殼有效抑制靜電放電干擾,防止設(shè)備損壞和數(shù)據(jù)丟失,測(cè)試涵蓋接觸放電、空氣放電等多種模式。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

靜電放電性能測(cè)試:

  • 接觸放電測(cè)試:放電電壓(±2kV至±30kV)、放電電流峰值(參照IEC 61000-4-2)
  • 空氣放電測(cè)試:放電距離(0.1m至1m)、放電波形上升時(shí)間(≤1ns)
電氣性能測(cè)試:
  • 表面電阻:電阻值(≥10^9 Ω,參照IEC 60093)
  • 體積電阻:電阻率(≥10^12 Ω·cm)
機(jī)械性能測(cè)試:
  • 沖擊強(qiáng)度:沖擊能量(≥5J,參照ISO 179)
  • 彎曲強(qiáng)度:屈服強(qiáng)度(≥50MPa)
環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試:
  • 溫濕度循環(huán):溫度范圍(-40°C至85°C)、濕度變化(30%至90%RH)
  • 鹽霧腐蝕:腐蝕等級(jí)(≤3級(jí),參照ISO 9227)
熱性能測(cè)試:
  • 熱變形溫度:變形點(diǎn)(≥100°C)
  • 熱老化:老化時(shí)間(168h,溫度85°C)
化學(xué)性能測(cè)試:
  • 耐溶劑性:溶劑浸泡后重量變化(≤0.5%)
  • 酸堿抗性:pH值范圍(2-12)
安全性能測(cè)試:
  • 絕緣強(qiáng)度:擊穿電壓(≥3kV)
  • 漏電流:電流值(≤0.5mA)
EMC性能測(cè)試:
  • 輻射抗擾度:場(chǎng)強(qiáng)(10V/m)
  • 傳導(dǎo)抗擾度:電壓(3V)
老化測(cè)試:
  • 紫外老化:老化時(shí)間(500h,參照ISO 4892)
  • 熱氧老化:氧化指數(shù)(≥28%)
可靠性測(cè)試:
  • 振動(dòng)耐久:振動(dòng)頻率(5Hz至500Hz,加速度5g)
  • 循環(huán)壽命:循環(huán)次數(shù)(≥10000次)

檢測(cè)范圍

1. 塑料外殼: 包括ABS、PC等材料,重點(diǎn)檢測(cè)表面電阻和靜電放電電壓

2. 金屬外殼: 涵蓋鋁合金、不銹鋼等,側(cè)重接地連續(xù)性和放電電流峰值

3. 復(fù)合材料外殼: 如碳纖維增強(qiáng)塑料,檢測(cè)重點(diǎn)為體積電阻和沖擊強(qiáng)度

4. 涂層表面: 包括噴涂、電鍍層,關(guān)鍵檢測(cè)表面電阻和耐腐蝕性

5. 電子設(shè)備整機(jī)外殼: 如服務(wù)器機(jī)箱,側(cè)重整體EMC性能和放電波形

6. 便攜設(shè)備外殼: 智能手機(jī)、平板外殼,重點(diǎn)檢測(cè)輕量化材料的絕緣強(qiáng)度和熱變形

7. 工業(yè)設(shè)備外殼: 控制柜、儀器外殼,檢測(cè)重點(diǎn)為環(huán)境適應(yīng)性和安全漏電流

8. 汽車(chē)電子外殼: ECU、傳感器外殼,側(cè)重溫度循環(huán)和振動(dòng)耐久性

9. 醫(yī)療設(shè)備外殼: 監(jiān)護(hù)儀、診斷設(shè)備外殼,關(guān)鍵檢測(cè)化學(xué)抗性和可靠性循環(huán)

10. 消費(fèi)電子外殼: 家電、可穿戴設(shè)備外殼,重點(diǎn)檢測(cè)老化性能和輻射抗擾度

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):

  • IEC 61000-4-2 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
  • ISO 10605 道路車(chē)輛靜電放電試驗(yàn)
  • ISO 179 塑料沖擊性能測(cè)定
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):
  • GB/T 17626.2 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
  • GB/T 2423.22 環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)N溫度變化
  • GB/T 2918 塑料試樣狀態(tài)調(diào)節(jié)和試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境
(方法差異說(shuō)明:國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-2采用更寬放電電壓范圍±2kV至±30kV,而國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.2增加特定溫濕度要求25°C±5°C;ISO 10605針對(duì)汽車(chē)應(yīng)用有更高放電等級(jí),GB/T 2423.22在溫度循環(huán)速率上更嚴(yán)格)

檢測(cè)設(shè)備

1. 靜電放電發(fā)生器: ESD-30型(輸出電壓±30kV,精度±5%)

2. 表面電阻測(cè)試儀: SR-1000型(測(cè)量范圍10^3 Ω至10^14 Ω)

3. 絕緣電阻測(cè)試儀: IRT-500型(測(cè)試電壓500V至1000V)

4. EMC測(cè)試系統(tǒng): EMCSYS-2000(頻率范圍9kHz至6GHz)

5. 環(huán)境試驗(yàn)箱: ETX-300(溫度范圍-70°C至150°C,濕度10%至98%RH)

6. 熱沖擊試驗(yàn)箱: TSC-100(轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10秒,溫度-65°C至150°C)

7. 鹽霧試驗(yàn)箱: SST-50(噴霧量1.0ml/h至2.0ml/h)

8. 振動(dòng)測(cè)試臺(tái): VIBRO-5(頻率5Hz至2000Hz,最大加速度100g)

9. 沖擊測(cè)試機(jī): IMPACT-10(沖擊能量0.1J至50J)

10. 老化試驗(yàn)箱: UV-800(紫外波長(zhǎng)340nm,輻照度0.8W/m2)

11. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng): DAQ-2000(采樣率1MS/s,通道數(shù)16)

12. 示波器: OSC-500(帶寬500MHz,存儲(chǔ)深度10Mpts)

13. 萬(wàn)用表: DMM-6000(精度±0.05%,測(cè)量范圍0.1μA至10A)

14. 溫度濕度測(cè)試儀: THM-100(溫度精度±0.5°C,濕度精度±2%RH)

15. 光譜分析儀: SPEC-200(波長(zhǎng)范圍200nm至800nm,分辨率0.1nm)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

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