參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.點(diǎn)分辨率測試：基準(zhǔn)值≤0.08nm（200kV加速電壓）
2.信息極限測定：典型值≤0.05nm（單色器開啟狀態(tài)）
3.像散校正量：殘余像散≤5nm（明場像模式）
4.能量分辨率：≤0.3eV（EELS譜儀配置）
5.束流穩(wěn)定性：波動率≤0.2%/h（連續(xù)工作模式）

檢測范圍

1.納米材料：金屬/氧化物納米顆粒（1-100nm）、二維材料（石墨烯/MoS?）
2.半導(dǎo)體器件：FinFET結(jié)構(gòu)、量子阱異質(zhì)結(jié)
3.催化劑材料：負(fù)載型金屬催化劑（Pt/C,Pd/Al?O?）
4.金屬合金：高熵合金晶界結(jié)構(gòu)、析出相成分
5.生物樣品：冷凍固定蛋白質(zhì)復(fù)合體（需配備低溫樣品桿）

檢測方法

1.ASTME3060-16：透射電鏡圖像分辨率測定規(guī)程
2.ISO16700:2016：微束分析-電子探針-能譜定量分析通則
3.GB/T30544.5-2019：納米科技術(shù)語第5部分：納米/亞納米尺度測量
4.ISO21363:2020：納米技術(shù)-透射電子顯微鏡顆粒尺寸分布測定
5.GB/T36065-2018：納米材料表征用透射電子顯微鏡測量方法指南

檢測設(shè)備

1.ThermoFisherTitanThemisZ：配備單色器與雙球差校正器，信息極限0.05nm
2.JEOLARM300F：冷場發(fā)射槍配置，STEM分辨率0.078nm
3.HitachiHF5000：六極球差校正系統(tǒng)，支持4D-STEM技術(shù)
4.NionUltraSTEM200：超高真空設(shè)計(jì)（≤510??Pa），配備GIF量子能譜儀
5.FEITalosF200X：SuperXEDS系統(tǒng)（4個SDD探測器），Dual-X能量過濾器
6.ZeissLibra200MC：單色場發(fā)射源，單原子靈敏度能譜分析
7.JEOLJEM-ARM200FNEO：原子級元素面分布分析（原子探針模式）
8.ThermoFisherSpectra300：單色器+球差校正復(fù)合系統(tǒng)，支持in-situ實(shí)驗(yàn)
9.HitachiHD-2700：專用STEM模式（暗場分辨率0.09nm）
10.FEITecnaiOsiris：ChemiSTEM技術(shù)（X-FEG電子槍+4個Super-X探測器

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)