檢測項(xiàng)目1.波長范圍校準(zhǔn):200-800nm全波段覆蓋精度0.05nm2.分辨率測試:0.02nm@313.2nm(Hg雙線法)3.檢出限驗(yàn)證:Cd228.8nm≤0.5μg/L(ICP-OES模式)4.重復(fù)性測試:RSD≤1.5%(Fe259.94nm連續(xù)10次測量)5.基體效應(yīng)評估:20%NaCl溶液對Cu324.75nm信號抑制率≤15%檢測范圍1.有色金屬材料:鋁基/銅基合金中Fe、Si、Mn等痕量雜質(zhì)(0.001%-0.1%)2.鋼鐵制品:碳鋼及不銹鋼中C、S、P等非金屬元素(GB/T223系列
檢測項(xiàng)目1.初始壓降值:在標(biāo)準(zhǔn)流量(10-50m/h)下測量介質(zhì)兩側(cè)壓差(0-500Pa)2.流量-壓降曲線:記錄0.1-2.0m/s流速范圍內(nèi)的動態(tài)壓力變化3.孔隙率相關(guān)性:分析孔隙率(30-90%)與壓降的數(shù)學(xué)關(guān)系模型4.重復(fù)性偏差:連續(xù)10次測試結(jié)果的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD≤3%)5.溫度影響系數(shù):測定20-150℃工況下的壓降波動率(5%閾值)檢測范圍1.金屬多孔板:燒結(jié)不銹鋼/鈦合金過濾元件(厚度0.5-10mm)2.陶瓷過濾板:氧化鋁/碳化硅基高溫過濾介質(zhì)(孔徑5-100μm)3.高分子濾膜:P
檢測項(xiàng)目1.固體含量:依據(jù)GB/T11175標(biāo)準(zhǔn)測定非揮發(fā)物質(zhì)量百分比(602℃烘干至恒重)2.黏度:采用旋轉(zhuǎn)黏度計(jì)測量25℃條件下表觀黏度(范圍500-5000mPas)3.pH值:使用精密pH計(jì)測定25℃水溶液電位值(參考范圍7.5-10.5)4.殘留單體:通過氣相色譜法測定氯乙烯單體含量(限量≤1ppm)5.機(jī)械穩(wěn)定性:高速攪拌(3000rpm)30分鐘后觀察絮凝情況6.粒徑分布:激光粒度儀測定D50中位粒徑(典型范圍0.1-2μm)7.成膜性能:干燥后薄膜的拉伸強(qiáng)度(≥10MPa)和斷裂伸長率(≥
檢測項(xiàng)目1.表面平整度偏差:測量范圍0.1λ(λ=632.8nm),分辨率0.001λ;2.膜層厚度均勻性:測量精度0.5nm(厚度范圍50-5000nm);3.波前畸變分析:PV值≤λ/20(@632.8nm);4.折射率分布測定:精度0.0005(波長范圍400-1100nm);5.缺陷密度統(tǒng)計(jì):可識別≥0.3μm的劃痕或顆粒缺陷。檢測范圍1.光學(xué)玻璃基板:包括熔融石英、BK7玻璃等精密光學(xué)元件;2.半導(dǎo)體晶圓:硅片、砷化鎵等襯底表面形貌分析;3.聚合物薄膜:PET、PI等柔性顯示基材的厚度均勻性檢測
檢測項(xiàng)目1.唇部厚度測量:采用三維掃描技術(shù)測定靜息/動態(tài)狀態(tài)下的垂直厚度(精度0.05mm)2.對稱性指數(shù)分析:通過面部坐標(biāo)系計(jì)算左右唇峰高度偏差值(單位:mm)3.組織彈性模量測試:使用CutometerMPA580測定皮膚回彈率(參數(shù)R0-R9)4.血管分布密度評估:激光多普勒血流儀(PeriFlux6000)測量毛細(xì)血管密度(單位:PU)5.神經(jīng)敏感度測試:Semmes-Weinstein單絲儀(壓力范圍0.008-300g)測定觸覺閾值檢測范圍1.醫(yī)美注射填充材料(透明質(zhì)酸/膠原蛋白類)2.唇部修
檢測項(xiàng)目1.重金屬殘留:鉛(≤0.2mg/kg)、鎘(≤0.1mg/kg)、汞(≤0.05mg/kg)2.農(nóng)藥殘留:有機(jī)磷類(≤0.01mg/kg)、擬除蟲菊酯類(≤0.05mg/kg)3.抗生素殘留:四環(huán)素類(≤0.1mg/kg)、磺胺類(≤0.1mg/kg)4.微生物指標(biāo):菌落總數(shù)(≤510?CFU/g)、大腸菌群(≤3MPN/g)5.寄生蟲檢測:華支睪吸蟲囊蚴(不得檢出)、異尖線蟲幼蟲(不得檢出)檢測范圍1.淡水養(yǎng)殖魚類:鯉魚(Cyprinuscarpio)、鯽魚(Carassiusauratus)
投訴電話:010-82491398
企業(yè)郵箱:010@yjsyi.com
總部:北京市豐臺區(qū)航豐路8號院1號樓1層121
分部:山東省濟(jì)南市歷城區(qū)唐冶綠地匯中心36號樓
北京前沿科學(xué)技術(shù)研究院
抖音
公眾號
快手
微視頻
小紅書
Copyright ? 北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所 | 京ICP備15067471號-16 | 網(wǎng)站地圖:[1] [2]
Copyright ? 北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所 | 京ICP備15067471號-16