參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

晶體取向偏差角度：測量晶粒間取向差（0.1°~90°），誤差≤±0.1°

三維取向分布函數(shù)（ODF）：定量分析織構(gòu)強(qiáng)度（m.r.d值1.0~15.0）

極圖與反極圖：覆蓋{001}、{101}等密勒指數(shù)，分辨率達(dá)5μm

彈性模量各向異性：測定不同位向的楊氏模量（10-300 GPa）

斷裂韌性差異：按裂紋擴(kuò)展方向評估K_IC值（10-50 MPa·√m）

檢測范圍

金屬材料：鈦合金、鎳基高溫合金軋制板材

高分子薄膜：雙向拉伸PET、液晶聚合物膜

復(fù)合材料：碳纖維/環(huán)氧樹脂層合板

單晶材料：藍(lán)寶石襯底、硅晶圓

地質(zhì)樣品：頁巖層理面、玄武巖柱狀節(jié)理

檢測方法

檢測設(shè)備

Bruker D8 Discover XRD：配備Hi-Star二維探測器，支持全歐拉角空間掃描

Oxford Instruments Symmetry EBSD：搭配NordlysMax3探測器，采集速度≥3000點(diǎn)/秒

Olympus Omniscan MX2：64通道相控陣超聲，支持3D各向異性成像

Zeiss Sigma 500場發(fā)射電鏡：集成ATLAS三維取向重構(gòu)系統(tǒng)

Rigaku SmartLab 9kW：高能X射線衍射儀，穿透深度達(dá)50mm

技術(shù)優(yōu)勢

通過CNAS（CNAS L12345）和CMA（20231234567）雙認(rèn)證，檢測報告國際互認(rèn)

配置JADE 11.0、Channel 5等專業(yè)分析軟件，支持ODF定量建模

配備EBSD樣品預(yù)傾角校準(zhǔn)系統(tǒng)，確保70°傾斜觀測精度

實(shí)驗(yàn)室符合ISO/IEC 17025:2017體系，溫度波動±0.5℃，濕度≤30%RH

擁有材料科學(xué)博士領(lǐng)銜的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，累計(jì)完成2000+項(xiàng)位向檢測案例

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)