參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.曲率半徑精度：測(cè)量范圍500mm，允許偏差≤0.05mm（@R50mm）

2.表面粗糙度：Ra≤0.02μm（有效孔徑≥80%區(qū)域）

3.直徑偏差：標(biāo)稱直徑Φ3-200mm范圍內(nèi)公差0.01mm

4.材料硬度：Knoop硬度測(cè)試載荷500gf，允差5%

5.光學(xué)均勻性：折射率梯度≤210??/cm（@632.8nm）

6.面形精度：PV值≤λ/4（@633nm干涉測(cè)量）

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)玻璃平凸棒：BK7、FusedSilica等材質(zhì)透鏡元件

2.石英晶體平凸棒：激光設(shè)備用紫外級(jí)熔融石英元件

3.聚合物平凸棒：PMMA、PC材質(zhì)導(dǎo)光結(jié)構(gòu)件

4.金屬合金平凸棒：鈦合金/鋁合金精密機(jī)械部件

5.陶瓷復(fù)合材料平凸棒：氮化硅/氧化鋯高溫結(jié)構(gòu)件

檢測(cè)方法

1.ISO10110-5:2015光學(xué)元件表面缺陷評(píng)定規(guī)范

2.ASTMD7127-17非接觸式表面粗糙度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

3.GB/T2831-2009光學(xué)零件曲率半徑測(cè)試方法

4.ISO14706:2014表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光光譜法

5.GB/T4340.1-2009金屬材料維氏硬度試驗(yàn)方法

6.ASTMF218-20激光干涉法測(cè)量光學(xué)元件面形精度

檢測(cè)設(shè)備

1.TaylorHobsonPGIOptics輪廓儀：分辨率0.1nm的面形測(cè)量系統(tǒng)

2.MitutoyoCV-3200非接觸式輪廓儀：曲率半徑測(cè)量精度0.3μm

3.ZygoVerifireMST干涉儀：波長(zhǎng)632.8nm，PV值重復(fù)性λ/100

4.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀：垂直分辨率0.01nm的3D形貌分析

5.ShimadzuHMV-G21ST顯微硬度計(jì)：50gf-2kgf多載荷測(cè)試模塊

6.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000倍超景深表面缺陷分析

7.MahrMillimarC1216測(cè)長(zhǎng)機(jī)：直徑測(cè)量精度0.15μm/m

8.PerkinElmerLambda1050分光光度計(jì)：190-3300nm透射率測(cè)試系統(tǒng)

9.OlympusBX53M材料分析顯微鏡：微分干涉對(duì)比成像系統(tǒng)

10.Agilent8900ICP-MS：ppb級(jí)元素成分分析儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)