參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

對(duì)比度范圍：0.05-0.3（基于灰度直方圖分析）

信噪比閾值：≥25dB（20℃標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境）

邊緣銳度檢測(cè)：MTF50值＞0.35 lp/mm

灰度分辨率：12bit ADC量化精度

噪聲水平：RMS≤0.8%（在標(biāo)準(zhǔn)灰度卡測(cè)試條件下）

檢測(cè)范圍

工業(yè)X射線探傷圖像（焊縫/鑄件缺陷）

電子元件顯微成像（BGA焊點(diǎn)/晶圓表面）

醫(yī)學(xué)超聲影像（軟組織病灶識(shí)別）

衛(wèi)星遙感圖像（地表覆蓋分類）

印刷品質(zhì)量檢測(cè)（防偽標(biāo)識(shí)識(shí)別）

檢測(cè)方法

ASTM E2590-22 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法（數(shù)字圖像系統(tǒng)空間分辨率評(píng)估）

ISO 16067-1:2017 攝影技術(shù)-電子掃描儀分辨率測(cè)量

GB/T 23412-2021 醫(yī)學(xué)影像處理系統(tǒng)技術(shù)要求

GB/T 18833-2022 逆反射測(cè)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范

ISO 15708-3:2023 計(jì)算機(jī)斷層成像檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

Olympus DSX1000光學(xué)成像系統(tǒng)：具備1000:1動(dòng)態(tài)范圍及0.01lx低照度成像能力

Keyence IM-8000數(shù)字圖像分析儀：支持ASTM E2590全參數(shù)自動(dòng)測(cè)量

YXLON FF35 CT系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)0.5%密度分辨率的斷層成像檢測(cè)

GE Voluson E10超聲診斷儀：配備HDlive Flow高動(dòng)態(tài)成像模式

Matlab圖像處理工具箱（2023b版）：提供專用SNR/CNR計(jì)算模塊

ImagePro Premier 3D分析軟件：支持ISO 16067分辨率測(cè)試流程

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)