區(qū)域熔煉檢測摘要:區(qū)域熔煉檢測是評估高純度材料制備工藝質(zhì)量的核心手段,重點關(guān)注材料雜質(zhì)分布、晶體結(jié)構(gòu)完整性及熱力學(xué)參數(shù)控制。檢測要點包括熔區(qū)溫度梯度分析、雜質(zhì)偏析系數(shù)測定、晶粒取向一致性驗證,需結(jié)合光譜分析、顯微結(jié)構(gòu)觀測等專業(yè)技術(shù)手段,確保檢測結(jié)果符合半導(dǎo)體、光學(xué)元件等高端制造領(lǐng)域的技術(shù)要求。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
雜質(zhì)元素分布檢測(檢測范圍:0.1ppb-1000ppm)
熔區(qū)溫度梯度測定(測量精度±1.5℃,范圍800-1600℃)
晶體取向偏差檢測(EBSD分析,角度分辨率≤0.1°)
熔煉速率穩(wěn)定性監(jiān)測(控制精度±0.2mm/h)
微觀缺陷密度檢測(SEM觀測,檢測下限10^3/cm2)
半導(dǎo)體級單晶硅/鍺材料
高純度金屬鎳/鋁單晶
光學(xué)級氟化鈣/藍(lán)寶石晶體
核工業(yè)用鋯/鉿合金
高溫合金單晶葉片
輝光放電質(zhì)譜法(ASTM E1720-21)
高溫?zé)岢上穹治龇ǎ↖SO 18434-1:2022)
電子背散射衍射技術(shù)(GB/T 35013-2018)
激光位移測量法(GB/T 33223-2016)
掃描電子顯微鏡檢測(ISO 16700:2020)
Thermo Scientific ELEMENT GD輝光放電質(zhì)譜儀(ppb級雜質(zhì)分析)
FLIR A8300sc高溫紅外熱像儀(溫度場動態(tài)監(jiān)測)
Zeiss EVO 18掃描電子顯微鏡(微區(qū)成分與形貌分析)
Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀(晶體結(jié)構(gòu)解析)
Keyence LJ-V7300激光位移傳感器(熔速實時監(jiān)控)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
中析區(qū)域熔煉檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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