參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

主成分分析：Mn（30-70%）、Si（10-30%）含量測定

雜質(zhì)元素檢測：P（≤0.25%）、S（≤0.04%）、C（≤1.5%）限量控制

物理性能測試：堆積密度（1.8-2.2g/cm3）、孔隙率（15-25%）

粒度分布：+50mm（≤5%）、-10mm（≤20%）篩分指標(biāo)

冶金特性：熔化溫度（1200-1350℃）、還原度（≥85%）

檢測范圍

冶金級硅錳塊礦（Mn≥60%，Si≥14%）

精煉用硅錳粉料（200目通過率≥95%）

硅錳合金中間品（C含量0.5-1.2%）

高碳硅錳冶煉輔料（P≤0.15%）

貿(mào)易交割標(biāo)準(zhǔn)品（符合YS/T 619-2022）

檢測方法

X射線熒光光譜法：GB/T 5687-2016測定主量元素

高頻紅外碳硫分析：ASTM E1019-18測定C/S含量

電感耦合等離子體法：ISO 11535:2006檢測微量雜質(zhì)

激光粒度分析法：GB/T 19077-2016測定粒徑分布

高溫差示掃描量熱法：ISO 11357-3:2018測定相變溫度

檢測設(shè)備

Thermo Fisher ARL PERFORM'X X射線熒光光譜儀：主成分定量分析

LECO CS844碳硫測定儀：高頻燃燒紅外吸收法測C/S

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：痕量元素精確測定

Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：干濕法粒度分布測試

NETZSCH STA 449F3同步熱分析儀：高溫相變特性研究

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)