參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.表面電位分布：測量范圍10kV，分辨率≤0.1mV

2.動態(tài)響應時間：時間窗口0.1ms-100s，誤差2%

3.電荷密度梯度：精度510cm?

4.界面擴散系數(shù)：溫度范圍-50℃~300℃，重復性誤差≤3%

5.電場強度衰減率：量程0.1-100kV/mm，線性度R≥0.995

檢測范圍

1.半導體材料（硅基/化合物半導體晶圓）

2.薄膜涂層（ITO/PEDOT:PSS導電膜）

3.電化學儲能器件（鋰離子電池隔膜/固態(tài)電解質(zhì)）

4.生物醫(yī)用材料（骨植入物表面改性層）

5.功能陶瓷（壓電/熱釋電材料）

檢測方法

1.ASTMF398-22：非接觸式表面電位掃描規(guī)程

2.ISO21360:2018：真空環(huán)境下電荷遷移率測定

3.GB/T22319-2023：電化學阻抗譜法測量界面擴散勢

4.ASTME2865-19(2024)：瞬態(tài)電場衰減分析法

5.GB11297.5-2021：激光誘導表面電勢測試方法

檢測設備

1.Kelvin探針力顯微鏡（KV-9800）：納米級表面電位成像

2.高精度靜電計（KEITHLEY6517B）：10??A電流分辨率

3.瞬態(tài)電場分析儀（TrekModel347）：100kV脈沖電場發(fā)生模塊

4.真空探針臺（LakeShoreCRX-6.5K）：低溫至650℃環(huán)境控制

5.激光多普勒測速系統(tǒng)（PolytecMSA-600）：非接觸式電荷運動追蹤

6.原子力電化學工作站（BrukerDimensionIcon）：原位電化學-AFM聯(lián)用

7.X射線光電子能譜儀（ThermoESCALABXi+）：表面元素價態(tài)分析

8.太赫茲時域光譜儀（AdvantestTAS7500SU）：寬頻介電響應測量

9.微區(qū)光致發(fā)光系統(tǒng)（HoribaLabRAMHREvolution）：載流子擴散長度測定

10.同步輻射掠入射裝置（SSRFBL08U1-A）：界面原子級擴散行為表征

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)