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金膜電容器檢測

2025-03-24 關(guān)鍵詞:金膜電容器測試儀器,金膜電容器測試案例,金膜電容器測試范圍 相關(guān):
金膜電容器檢測

金膜電容器檢測摘要:金膜電容器檢測是評(píng)估其電氣性能與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要涵蓋電容量、耐壓強(qiáng)度、損耗特性等核心參數(shù)。通過標(biāo)準(zhǔn)化測試方法及精密儀器分析,可驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合IEC、GB/T等規(guī)范要求。本文系統(tǒng)闡述檢測項(xiàng)目、適用材料范圍、國際/國家標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)備選型要點(diǎn)。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.電容量偏差測試:測量標(biāo)稱值與實(shí)測值偏差(5%以內(nèi))

2.耐壓強(qiáng)度試驗(yàn):直流電壓500V-10kV持續(xù)60s無擊穿

3.損耗角正切值(tanδ):頻率1kHz下≤0.002

4.絕緣電阻測試:施加100VDC時(shí)≥10GΩ

5.溫度特性分析:-55℃~+125℃范圍內(nèi)容量變化率≤15%

檢測范圍

1.高頻電路用超薄金膜電容器(厚度≤0.5mm)

2.高壓電源模塊用多層堆疊式金膜電容

3.航天級(jí)耐輻射金膜密封電容器

4.柔性電路基板用可彎曲金膜電容

5.高溫環(huán)境用陶瓷基板金膜電容

檢測方法

1.IEC60384-8:2018《固定電容器第8部分:分規(guī)范1類陶瓷介質(zhì)固定電容器》

2.GB/T6346.14-2015《電子設(shè)備用固定電容器第14部分:分規(guī)范表面安裝金屬化聚酯膜介質(zhì)直流固定電容器》

3.ASTMD150-11(2018)《固體電絕緣材料的交流損耗特性和介電常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

4.JISC5101-1:2016《電子設(shè)備用固定電容器試驗(yàn)方法通則》

5.MIL-PRF-123B《電容器的通用規(guī)范》

檢測設(shè)備

1.KeysightE4980A精密LCR表:測量頻率20Hz至2MHz的阻抗參數(shù)

2.Chroma19032耐壓測試儀:輸出0-5kVAC/DC電壓

3.ThermotronS-1.2溫控試驗(yàn)箱:溫度范圍-70℃~+180℃

4.Agilent4338B毫歐表:測量10μΩ~100kΩ電阻值

5.HiokiIM3536介損測試儀:分辨率0.00001tanδ

6.Fluke1587絕緣電阻測試儀:最大量程1000GΩ

7.TektronixAFG31000函數(shù)發(fā)生器:輸出頻率1μHz~120MHz

8.OmicronBode100頻響分析儀:相位精度0.1

9.ESPECPCT-120氣候試驗(yàn)箱:溫濕度交變控制

10.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡:5000倍表面形貌分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析金膜電容器檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,請咨詢在線工程師

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