參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 角度偏差檢測(cè)：測(cè)量實(shí)際角度與設(shè)計(jì)值的偏差范圍（±0.1°~±2°）

2. 圓角半徑驗(yàn)證：核查R0.1mm~R10mm范圍內(nèi)的圓弧過(guò)渡精度

3. 倒角長(zhǎng)度測(cè)定：控制45°倒角的軸向長(zhǎng)度公差（±0.05mm~±0.5mm）

4. 邊緣垂直度分析：評(píng)估相鄰面垂直度誤差（≤0.02mm/100mm）

5. 表面平面度檢驗(yàn)：檢測(cè)基準(zhǔn)面的平面波動(dòng)量（≤0.01mm/m2）

檢測(cè)范圍

1. 金屬結(jié)構(gòu)件：包括鋁合金型材、不銹鋼沖壓件等機(jī)械加工產(chǎn)品

2. 塑料注塑件：涉及電子設(shè)備外殼、汽車內(nèi)飾組件等精密成型部件

3. 陶瓷制品：涵蓋工業(yè)陶瓷密封環(huán)、電子基板等脆性材料產(chǎn)品

4. 復(fù)合材料構(gòu)件：包含碳纖維增強(qiáng)塑料（CFRP）航空部件

5. 精密機(jī)械零件：涉及軸承座、齒輪箱體等關(guān)鍵傳動(dòng)部件

檢測(cè)方法

1. ASTM E1951-14：采用三維坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行空間角度分析

2. ISO 2768-1:1989：規(guī)定未注公差角度的通用驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)

3. GB/T 1804-2000：中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的線性尺寸未注公差分級(jí)規(guī)范

4. DIN 7168:1991：德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中的角度公差標(biāo)注體系

5. JIS B 0405-1991：日本工業(yè)規(guī)格的倒角尺寸允許偏差標(biāo)準(zhǔn)

檢測(cè)設(shè)備

1. Hexagon Global Classic 07.10.07三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：空間精度±(1.9+L/250)μm

2. Mitutoyo Crysta-Apex S系列影像測(cè)量?jī)x：光學(xué)放大倍率30X~200X

3. Zeiss O-INSPECT 322復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)：配備5軸聯(lián)動(dòng)掃描探頭

4. Nikon V-12B光學(xué)投影儀：投影精度±0.005mm

5. Keyence IM-8000系列激光掃描儀：線掃描速率12800點(diǎn)/秒

6. Mahr MarForm MMQ400輪廓儀：徑向測(cè)量范圍φ150mm

7. Renishaw PH20五軸觸發(fā)式測(cè)頭系統(tǒng)：重復(fù)精度0.35μm

8. OGP SmartScope ZIP 250多傳感器系統(tǒng)：配備12MP彩色CCD相機(jī)

9. Wenzel LH系列橋式測(cè)量機(jī)：最大允許誤差(2.5+3L/1000)μm

10. Alicona InfiniteFocus G5光學(xué)3D表面測(cè)量?jī)x：垂直分辨率10nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)