參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.極化率測量：標(biāo)稱值≥95%（0.5%），覆蓋能量范圍0.02-100meV
2.極化均勻性分析：空間分辨率≤1mm，磁場梯度控制0.01T/m
3.極化方向偏差角：角度精度0.05，三維矢量測量
4.自旋弛豫時間：時間分辨率10ns-100s量程
5.溫度依賴性測試：溫控范圍4K-300K（0.1K）

檢測范圍

1.鐵磁/反鐵磁單晶材料（如Fe?O?、MnSi）
2.拓?fù)浣^緣體薄膜（Bi?Se?/Si異質(zhì)結(jié)）
3.超導(dǎo)約瑟夫森結(jié)器件（Nb/AlOx/Nb結(jié)構(gòu)）
4.核燃料包殼材料（鋯合金ZIRLO系列）
5.磁性納米顆粒造影劑（Fe?O?@SiO?復(fù)合體系）

檢測方法

1.ASTME3050-22《中子極化矢量三維表征標(biāo)準(zhǔn)方法》
2.ISO18516:2018《中子散射技術(shù)-自旋回波測量規(guī)范》
3.GB/T41632-2022《極化中子反射法測試規(guī)程》
4.ISO20270:2019《超導(dǎo)材料臨界磁場極化分析法》
5.GB/T31997-2015《核級鋯合金織構(gòu)測定方法》

檢測設(shè)備

1.ThermoScientificNP-2000系列中子極化分析儀（3He過濾系統(tǒng)）
2.OxfordInstrumentsPolaris-X低溫強(qiáng)場磁體系統(tǒng)（14T/4K）
3.BrukerD8ADVANCEXRD聯(lián)用中子衍射裝置（λ=1.798）
4.HUBER420-631.1型四圓衍射儀（角度重復(fù)精度0.001）
5.LakeShore475型數(shù)字高斯計（0.01mT分辨率）
6.RHKTechnologySPIN-SPM掃描探針顯微鏡（磁疇成像）
7.KeysightB2902A精密源表（pA級電流測量）
8.JanisSHI-950閉循環(huán)制冷系統(tǒng)（最低溫度3K）
9.CAENDT5781數(shù)字化能譜儀（2048通道ADC）
10.Agilent33500B波形發(fā)生器（1μHz頻率分辨率）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)