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擦地入射檢測

2025-05-19 關鍵詞:擦地入射項目報價,擦地入射測試案例,擦地入射測試機構 相關:
擦地入射檢測

擦地入射檢測摘要:檢測項目1.入射角精度驗證:測量范圍0-85,分辨率0.012.反射率偏差分析:波長覆蓋250-2500nm,精度0.5%3.表面粗糙度測定:Ra值測量范圍0.01-10μm4.膜層厚度校準:分辨率達0.1nm(適用于5-5000nm厚度)5.耐磨損性能測試:載荷0.1-10N線性可調(diào)6.偏振特性表征:消光比≥10000:1檢測范圍1.金屬鍍層材料(金/銀/鋁反射膜)2.光學薄膜系統(tǒng)(增透膜/分光膜/濾光片)3.半導體晶圓表面處理層4.精密機械軸承拋光面5.航天器熱控涂層材料6.

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.入射角精度驗證:測量范圍0-85,分辨率0.01

2.反射率偏差分析:波長覆蓋250-2500nm,精度0.5%

3.表面粗糙度測定:Ra值測量范圍0.01-10μm

4.膜層厚度校準:分辨率達0.1nm(適用于5-5000nm厚度)

5.耐磨損性能測試:載荷0.1-10N線性可調(diào)

6.偏振特性表征:消光比≥10000:1

檢測范圍

1.金屬鍍層材料(金/銀/鋁反射膜)

2.光學薄膜系統(tǒng)(增透膜/分光膜/濾光片)

3.半導體晶圓表面處理層

4.精密機械軸承拋光面

5.航天器熱控涂層材料

6.醫(yī)療內(nèi)窺鏡光學元件

檢測方法

ASTME903-20:材料太陽吸收率標準測試方法

ISO13696:2002:光學元件散射特性測量規(guī)范

GB/T26323-2010:色散型紅外光譜分析方法

ISO14707:2015:輝光放電光譜法表面分析通則

GB/T22461-2008:表面粗糙度比較樣塊校準規(guī)范

ASTMB748-90(2021):通過測量電阻率測定金屬涂層厚度

檢測設備

1.J.A.WoollamM-2000UI型全自動橢偏儀(寬光譜膜厚測量)

2.BrukerContourGT-X3白光干涉儀(三維形貌分析)

3.ShimadzuISR-2600Plus積分球分光光度計(半球反射率測定)

4.ZygoNewView9000激光干涉儀(納米級表面粗糙度檢測)

5.AgilentCary7000全能型分光光度計(紫外-可見-近紅外全波段分析)

6.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡(亞微米級缺陷檢測)

7.AntonPaarTRB摩擦磨損試驗機(動態(tài)載荷磨損模擬)

8.HoribaJobinYvonUVISEL2相位調(diào)制橢偏儀(實時原位監(jiān)測)

9.Keysight5500原子力顯微鏡(原子級表面表征)

10.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀(化學鍵合狀態(tài)分析)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析擦地入射檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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