光學(xué)相關(guān)檢測摘要:檢測項目1.光譜透射率:測量波長范圍200-2500nm,精度0.5%,依據(jù)ISO13468標(biāo)準(zhǔn)2.表面粗糙度:Ra值檢測范圍0.1nm-10μm,采用白光干涉法測量3.折射率測定:可見光波段(380-780nm)精度0.0002,紅外波段最高達(dá)0.0014.光學(xué)均勻性:波前畸變檢測靈敏度λ/20@632.8nm5.色散系數(shù):阿貝數(shù)測量誤差≤0.1%,覆蓋nd(587.6nm)至nF(486.1nm)檢測范圍1.光學(xué)玻璃:包括BK7、熔融石英等基材的透過率與應(yīng)力雙折射檢測2.鍍膜元件:AR膜、分光膜的光譜
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.光譜透射率:測量波長范圍200-2500nm,精度0.5%,依據(jù)ISO13468標(biāo)準(zhǔn)
2.表面粗糙度:Ra值檢測范圍0.1nm-10μm,采用白光干涉法測量
3.折射率測定:可見光波段(380-780nm)精度0.0002,紅外波段最高達(dá)0.001
4.光學(xué)均勻性:波前畸變檢測靈敏度λ/20@632.8nm
5.色散系數(shù):阿貝數(shù)測量誤差≤0.1%,覆蓋nd(587.6nm)至nF(486.1nm)
1.光學(xué)玻璃:包括BK7、熔融石英等基材的透過率與應(yīng)力雙折射檢測
2.鍍膜元件:AR膜、分光膜的光譜特性與耐久性測試
3.晶體材料:LiNbO?、CaF?等非線性晶體的相位匹配角測定
4.聚合物材料:PMMA、PC等光學(xué)塑料的霧度與黃變指數(shù)分析
5.光電元件:CCD/CMOS傳感器的量子效率與MTF特性表征
ASTME903-20《材料太陽吸收比的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
ISO10110-8:2020《光學(xué)和光子學(xué)制圖要求第8部分:表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》
GB/T7962.1-2010《無色光學(xué)玻璃測試方法第1部分:折射率和色散系數(shù)》
ISO13696:2002《光學(xué)元件散射特性的測量方法》
GB/T26333-2010《紅外光學(xué)材料折射率溫度系數(shù)測試方法》
1.PerkinElmerLambda1050+紫外可見近紅外分光光度計:波長范圍175-3300nm,配備150mm積分球模塊
2.ZygoNewView9000白光干涉儀:垂直分辨率0.1nm,橫向分辨率0.55μm
3.Metricon2010/M棱鏡耦合儀:折射率測量范圍1.3-4.0@632.8nm/1550nm雙波長
4.OptikosLensCheckMTF測試系統(tǒng):空間頻率最高200lp/mm,支持ISO12233標(biāo)準(zhǔn)
5.BrukerContourGT-X3三維光學(xué)輪廓儀:Z軸分辨率0.01nm,掃描速度50μm/s
6.ShimadzuIRAffinity-1S傅里葉紅外光譜儀:光譜范圍7800-350cm?,分辨率0.5cm?
7.OceanInsightQEPro高靈敏度光譜儀:量子效率測試范圍200-1100nm
8.TriopticsOptiCentric雙光路中心偏測量儀:測量精度1μm,最大試樣直徑300mm
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù)。
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