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多分子層檢測

2025-05-19 關鍵詞:多分子層測試機構(gòu),多分子層測試案例,多分子層測試范圍 相關:
多分子層檢測

多分子層檢測摘要:檢測項目1.層厚測量:采用橢圓偏振法(精度0.2nm)與X射線反射法(分辨率0.5nm),覆蓋1-500nm量程2.成分分析:通過XPS(結(jié)合能分辨率0.1eV)與TOF-SIMS(質(zhì)量精度1ppm)表征元素/官能團分布3.表面形貌:AFM掃描(橫向分辨率1nm)評估表面粗糙度(Ra≤0.5nm)及缺陷密度4.界面結(jié)合力:劃痕試驗(載荷0-50N)與剝離試驗(速度1mm/min)量化附著力等級5.熱力學性能:TGA-DSC聯(lián)用(升溫速率10℃/min)測定分解溫度(誤差2℃)與玻璃化轉(zhuǎn)變點檢測范圍1.納米

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.層厚測量:采用橢圓偏振法(精度0.2nm)與X射線反射法(分辨率0.5nm),覆蓋1-500nm量程
2.成分分析:通過XPS(結(jié)合能分辨率0.1eV)與TOF-SIMS(質(zhì)量精度1ppm)表征元素/官能團分布
3.表面形貌:AFM掃描(橫向分辨率1nm)評估表面粗糙度(Ra≤0.5nm)及缺陷密度
4.界面結(jié)合力:劃痕試驗(載荷0-50N)與剝離試驗(速度1mm/min)量化附著力等級
5.熱力學性能:TGA-DSC聯(lián)用(升溫速率10℃/min)測定分解溫度(誤差2℃)與玻璃化轉(zhuǎn)變點

檢測范圍

1.納米涂層材料:光伏背板阻隔層、刀具類金剛石鍍膜
2.半導體器件:晶圓鈍化層(SiO?/Si?N?)、3DNAND存儲堆疊結(jié)構(gòu)
3.高分子薄膜:鋰電池隔膜陶瓷涂層、食品包裝阻氧復合膜
4.金屬鍍層:汽車板鋅鋁鎂合金鍍層、航空鈦合金熱障涂層
5.生物醫(yī)用材料:骨科植入物羥基磷灰石涂層、藥物緩釋微球包衣

檢測方法

1.ASTME284-17:標準顯微術(shù)術(shù)語規(guī)范表面形貌分析流程
2.ISO15472:2010:XPS儀器能量標定與靈敏度因子校準方法
3.GB/T17359-2023:微束分析電子能譜通用技術(shù)條件
4.ASTMD3359-23:膠帶法測試涂層附著力的分級標準
5.ISO11358-3:2022:塑料TGA曲線分解動力學分析方法
6.GB/T23443-2009:建筑涂層自清潔性能測試規(guī)范

檢測設備

1.HitachiSU5000場發(fā)射掃描電鏡:配備BrukerQuantaxEDS實現(xiàn)5nm分辨率元素面分布
2.ThermoScientificK-AlphaX射線光電子能譜儀:單色化AlKα源(1486.6eV),能量分辨率≤0.5eV
3.BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡:峰值力輕敲模式支持液體環(huán)境原位測量
4.AntonPaarRevetestRST劃痕測試儀:最大載荷100N,聲發(fā)射信號同步采集界面失效點
5.NetzschSTA449F5同步熱分析儀:TG-DSC同步測量精度0.1μg/1μW
6.Agilent1260InfinityIIHPLC:配ELSD檢測器分析聚合物分子量分布(MWD≤1.05)
7.MalvernZetasizerNanoZSP:動態(tài)光散射測定膠體ζ電位(精度0.3mV)
8.ZeissAxioImager2金相顯微鏡:微分干涉對比成像解析50nm級層間裂紋

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)

中析多分子層檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師

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