參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.光斑直徑測(cè)量：包含1/e直徑（μm）、FWHM全寬半高值（nm）
2.能量分布均勻性：中心區(qū)域5%波動(dòng)范圍（λ=632.8nm）
3.調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）：空間頻率0-200lp/mm范圍內(nèi)對(duì)比度衰減曲線
4.斯特列爾比（StrehlRatio）：λ/14RMS波前誤差下的成像質(zhì)量系數(shù)
5.點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF）：三維能量分布半峰寬（FWHM）≤0.8λ

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)薄膜：AR/IR截止膜、分光膜等鍍膜元件
2.半導(dǎo)體晶圓：CMOS/CCD圖像傳感器像素陣列
3.激光器件：VCSEL激光器出射光束質(zhì)量
4.顯微物鏡：NA≥0.75的共聚焦顯微系統(tǒng)
5.投影鏡頭：4K/8K超短焦光學(xué)引擎核心組件

檢測(cè)方法

ASTME284-17光學(xué)系統(tǒng)分辨率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
ISO12233:2017電子靜態(tài)圖片成像分辨率測(cè)量
GB/T26189-2010激光光束寬度測(cè)量方法
ISO15529:2010光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)定程序
GB/T17409-2019光學(xué)系統(tǒng)雜散光測(cè)試規(guī)范

檢測(cè)設(shè)備

1.OphirSP928光束分析儀：測(cè)量直徑0.1-25mm光束輪廓
2.ThorlabsBP209-IR/M紅外光斑診斷系統(tǒng)：支持300-1700nm波長(zhǎng)
3.KeyenceVK-X3000激光共聚焦顯微鏡：0.01μm級(jí)三維形貌重建
4.ZeissLSM980NLO多光子顯微鏡：配備32通道光譜探測(cè)器
5.MalvernPanalyticalMastersizer3000：亞微米級(jí)顆粒分析模塊
6.HamamatsuC11440-22CU科學(xué)級(jí)CMOS相機(jī)：20482048像素分辨率
7.EdmundOpticsMTF測(cè)試臺(tái)：符合ISO12233標(biāo)準(zhǔn)配置
8.NewportRSP310旋轉(zhuǎn)臺(tái)系統(tǒng)：角度定位精度0.005
9.ShimadzuAIM-9000紅外顯微鏡：15μm空間分辨率FTIR系統(tǒng)
10.BrukerContourGT-X3白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)