參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.孔徑分布范圍：測(cè)量0.1-500μm區(qū)間內(nèi)孔隙尺寸及占比
2.潰蝕深度：采用非接觸式測(cè)量法精度0.5μm
3.孔隙率計(jì)算：基于ASTMB962標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定體積占比0.01%-15%
4.表面粗糙度：Ra值范圍0.05-6.3μm
5.抗壓強(qiáng)度變化率：對(duì)比原始材料強(qiáng)度下降比例（5%誤差）

檢測(cè)范圍

1.金屬合金：包括鋁合金6061-T6、鈦合金TC4等航空材料
2.高分子復(fù)合材料：環(huán)氧樹(shù)脂基碳纖維增強(qiáng)結(jié)構(gòu)件
3.混凝土結(jié)構(gòu)：水工建筑表面侵蝕層
4.陶瓷涂層：熱障涂層YSZ體系
5.航空航天部件：渦輪葉片氣膜冷卻孔道

檢測(cè)方法

1.ASTMG32-2016：空化侵蝕試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)流程
2.ISO11845:2020：腐蝕環(huán)境下的電化學(xué)阻抗譜法
3.GB/T10123-2012：應(yīng)力腐蝕開(kāi)裂試驗(yàn)規(guī)范
4.ASTME2109-01(2021)：X射線斷層掃描孔隙分析
5.GB/T1771-2007：鹽霧加速腐蝕試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

1.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：分辨率1nm級(jí)微觀形貌觀測(cè)
2.BrukerContourGT-X8三維表面輪廓儀：垂直分辨率0.1nm
3.Instron5982萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)：載荷范圍500N-300kN
4.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm
5.ZeissXradia620Versa顯微CT：空間分辨率0.7μm
6.GamryReference600+電化學(xué)工作站：頻率范圍10μHz-1MHz
7.KeyenceVHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍光學(xué)放大能力
8.ThermoFisherNicoletiS50傅里葉紅外光譜儀：波數(shù)范圍7800-350cm?
9.Agilent7900ICP-MS等離子體質(zhì)譜儀：檢出限0.1ppt級(jí)元素分析
10.Q-LabQ-FOGCRH600循環(huán)腐蝕箱：溫控精度1℃

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)