參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.平均厚度測量：采用多點(diǎn)法測定整體鍍層厚度（0.1-200μm）
2.局部厚度分析：針對關(guān)鍵區(qū)域進(jìn)行微區(qū)厚度測定（0.05μm精度）
3.厚度均勻性評估：計(jì)算不同位置厚度偏差值（允許偏差≤15%）
4.結(jié)合力測試：通過劃格法/熱震法評價(jià)鍍層附著力（符合ASTMB571）
5.孔隙率檢測：使用硝酸蒸汽法測定單位面積孔隙數(shù)量（≤5個/cm）

檢測范圍

1.金屬基材：鋼鐵件鋅鎳合金鍍層、銅合金銀鍍層
2.電子元件：PCB板金鍍層、半導(dǎo)體器件銅/錫鍍層
3.汽車零部件：活塞環(huán)鉻鍍層、連接器金鍍層
4.航空航天材料：鈦合金防護(hù)鍍層、鎂合金化學(xué)轉(zhuǎn)化膜
5.醫(yī)療器械：不銹鋼抗菌銀鍍層、骨科植入物羥基磷灰石涂層

檢測方法

1.磁性法（ASTMB499/ISO2178）：適用于磁性基體非磁性鍍層
2.渦流法（GB/T4957）：用于非導(dǎo)電基體導(dǎo)電鍍層測量
3.X射線熒光法（ISO3497/GB/T16921）：可測多層復(fù)合鍍層
4.金相顯微鏡法（GB/T6462）：通過截面研磨進(jìn)行破壞性檢測
5.β射線背散射法（ASTMB567）：專用于貴金屬薄鍍層分析

檢測設(shè)備

1.FischerMP0R-S微磁測厚儀：分辨率0.1μm，符合ISO2176標(biāo)準(zhǔn)
2.Elcometer456涂層測厚儀：支持Fe/NFe雙模式自動識別
3.OlympusDSX1000金相顯微鏡：配備5000倍物鏡及能譜模塊
4.HitachiX-MET8000XRF分析儀：可測Au/Pt/Rh等貴金屬鍍層
5.BrukerD8ADVANCEXRD系統(tǒng)：用于晶體結(jié)構(gòu)及應(yīng)力分析
6.ThermoScientificNitonXL5手持光譜儀：現(xiàn)場快速篩查設(shè)備
7.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡：非接觸式三維厚度測量系統(tǒng)
8.ZeissSigma500場發(fā)射電鏡：納米級涂層截面形貌觀測
9.ProceqPosiTector600超聲波測厚儀：復(fù)合涂層無損檢測
10.MitutoyoSJ-410輪廓儀：表面粗糙度與膜厚同步分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)