參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.位移損傷劑量（DPA）：測(cè)量范圍0.01-100dpa，精度5%

2.缺陷密度分布：分辨率達(dá)10¹⁴-10¹⁷defects/cm³

3.級(jí)聯(lián)尺寸分布：分析0.5-50nm級(jí)聯(lián)團(tuán)簇占比

4.空位-間隙原子對(duì)濃度比：測(cè)定精度0.05

5.熱峰持續(xù)時(shí)間：測(cè)量范圍0.1-10ps

檢測(cè)范圍

1.核反應(yīng)堆壓力容器鋼（RPV鋼）

2.第三代半導(dǎo)體材料（GaN/SiC）

3.鋯合金核燃料包殼材料

4.鎢基聚變堆第一壁材料

5.航天器抗輻射屏蔽復(fù)合材料

檢測(cè)方法

ASTME521-16：帶電粒子輻照損傷評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO18566:2017：離子束分析技術(shù)規(guī)范

GB/T28872-2012：電子顯微術(shù)測(cè)定晶體缺陷通則

GB/T36075.3-2018：核級(jí)鋯合金管材檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

ISO18557:2016：原子探針層析技術(shù)應(yīng)用指南

檢測(cè)設(shè)備

1.Tandetron4117A離子注入機(jī)：能量范圍50keV-10MeV

2.JEOLJEM-ARM300F球差校正透射電鏡：分辨率0.08nm

3.CAMECALEAP5000XR原子探針：三維原子分辨率0.3nm

4.ORTECGEM-C5060高純鍺探測(cè)器：能量分辨率1.7keV@1.33MeV

5.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：角度精度0.0001

6.FEIHeliosG4UX聚焦離子束系統(tǒng)：最小束斑直徑3nm

7.OxfordInstrumentsINCAX-Max能譜儀：元素檢測(cè)范圍B-U

8.KratosAXISSupraXPS系統(tǒng)：空間分辨率7μm

9.NetzschLFA467HyperFlash激光導(dǎo)熱儀：溫度范圍-125-1100℃

10.ZEISSCrossbeam550FIB-SEM聯(lián)用系統(tǒng)：成像分辨率1nm@15kV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)