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溫度傳導(dǎo)差檢測(cè)

2025-05-26 關(guān)鍵詞:溫度傳導(dǎo)差測(cè)試儀器,溫度傳導(dǎo)差測(cè)試方法,溫度傳導(dǎo)差測(cè)試周期 相關(guān):
溫度傳導(dǎo)差檢測(cè)

溫度傳導(dǎo)差檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.熱導(dǎo)率測(cè)定:測(cè)量范圍0.01-500W/(mK),精度3%2.熱擴(kuò)散系數(shù)分析:測(cè)試溫度范圍-50℃至1200℃,分辨率0.1mm/s3.比熱容測(cè)試:量程0.1-5J/(gK),重復(fù)性誤差≤1.5%4.界面接觸熱阻測(cè)量:壓力加載范圍0-10MPa,分辨率0.01Km/W5.溫度梯度分布成像:紅外熱像儀空間分辨率≤30μm,測(cè)溫精度1℃檢測(cè)范圍1.金屬材料:鋁合金(AA6061)、銅合金(C11000)、鈦合金(Ti-6Al-4V)等2.高分子復(fù)合材料:環(huán)氧樹(shù)脂基CFRP、聚酰亞胺薄膜(厚度25-

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.熱導(dǎo)率測(cè)定:測(cè)量范圍0.01-500W/(mK),精度3%

2.熱擴(kuò)散系數(shù)分析:測(cè)試溫度范圍-50℃至1200℃,分辨率0.1mm/s

3.比熱容測(cè)試:量程0.1-5J/(gK),重復(fù)性誤差≤1.5%

4.界面接觸熱阻測(cè)量:壓力加載范圍0-10MPa,分辨率0.01Km/W

5.溫度梯度分布成像:紅外熱像儀空間分辨率≤30μm,測(cè)溫精度1℃

檢測(cè)范圍

1.金屬材料:鋁合金(AA6061)、銅合金(C11000)、鈦合金(Ti-6Al-4V)等

2.高分子復(fù)合材料:環(huán)氧樹(shù)脂基CFRP、聚酰亞胺薄膜(厚度25-200μm)

3.陶瓷及玻璃材料:氧化鋁陶瓷(Al?O?95%)、石英玻璃(SiO?≥99.9%)

4.建筑保溫材料:巖棉板(密度80-200kg/m)、氣凝膠氈(孔隙率≥90%)

5.電子元器件:IGBT模塊基板、LED散熱基座(尺寸≤100100mm)

檢測(cè)方法

1.ASTME1461-13:激光閃射法測(cè)定熱擴(kuò)散系數(shù)

2.ISO22007-4:2017:瞬態(tài)平面熱源法測(cè)量聚合物導(dǎo)熱性能

3.GB/T10297-2015:非金屬固體材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定(護(hù)熱平板法)

4.ASTMD5470-17:薄型導(dǎo)熱界面材料接觸熱阻測(cè)試

5.GB/T3399-2022:塑料導(dǎo)熱系數(shù)試驗(yàn)方法(穩(wěn)態(tài)熱流法)

檢測(cè)設(shè)備

1.LFA467HyperFlash?:德國(guó)耐馳激光閃射儀,支持-120℃~2000℃極端溫度測(cè)試

2.DTC300:美國(guó)TA儀器導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀,符合ASTMD5470標(biāo)準(zhǔn)要求

3.TPS2500S:瑞典HotDisk瞬態(tài)平面熱源分析系統(tǒng),可測(cè)各向異性材料

4.HFM436Lambda:德國(guó)林賽斯護(hù)熱平板法導(dǎo)熱儀,測(cè)量精度2%

5.FLIRT1030sc:紅外熱像儀配備25μm微距鏡頭,支持溫度場(chǎng)動(dòng)態(tài)分析

6.LW-9389:國(guó)產(chǎn)高低溫試驗(yàn)箱(-70℃~+150℃),用于溫變環(huán)境模擬

7.MMRK2000:微尺度熱電特性測(cè)量系統(tǒng),支持納米級(jí)薄膜測(cè)試

8.TCiThermalAnalyzer:法國(guó)賽默飛瞬態(tài)熱線法導(dǎo)熱儀,液體樣品專用

9.ULVAC-RIKOTC-7000:日本真空理工高溫激光導(dǎo)熱儀(室溫~1500℃)

10.NetzschDSC214Polyma:差示掃描量熱儀,比熱容測(cè)量專用設(shè)備

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析溫度傳導(dǎo)差檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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