參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

絕緣性能檢測：

• 絕緣電阻測量：測試電阻值（≥10^12Ω，參照IEC60167）
• 擊穿電壓試驗：交流擊穿強度（kV/mm，測試速率2kV/s）
• 表面電阻率測試：電阻值（測試電壓100V-1000V）

• 介電常數(shù)測量：相對介電常數(shù)（εr，頻率范圍1kHz-1MHz）
• 介質損耗角正切：tanδ值（≤0.05，參照ASTMD150）
• 電容穩(wěn)定性：容量變化率（±5%溫度循環(huán)試驗）

• 體積電阻率測量：電阻值（測試電流1μA-10mA）
• 電導率測試：導電系數(shù)（S/m，溫度范圍-40°C至150°C）
• 接觸電阻評估：電阻值（壓力負荷0.5N-5N）

• 熱導率測量：導熱系數(shù)（W/m·K，參照ASTME1461）
• 熱膨脹系數(shù)測試：CTE值（ppm/K，溫度范圍25°C-200°C）
• 熱穩(wěn)定性試驗：絕緣電阻衰減率（老化溫度150°C×1000h）

• 濕熱老化試驗：絕緣電阻變化（濕度95%RH×1000h）
• 溫度循環(huán)測試：擊穿電壓漂移（循環(huán)次數(shù)500次）
• 鹽霧腐蝕試驗：表面電阻率變化（參照IEC60068-2-11）

• 彎曲疲勞試驗：導電通路斷裂率（彎曲角度±90°，次數(shù)1000次）
• 振動耐久測試：電阻值波動（頻率10Hz-2000Hz）
• 沖擊耐受性：絕緣層裂縫檢測（沖擊加速度50g）

• 紫外老化試驗：介電常數(shù)變化（輻照量300kJ/m2）
• 高溫貯存試驗：體積電阻率衰減（貯存溫度125°C×2000h）
• 氧化穩(wěn)定性評估：tanδ值增加率（氧氣濃度21%）

• 阻抗譜分析：復阻抗模值（頻率掃描10Hz-10MHz）
• 介電頻譜測試：損耗因子頻率依賴性
• 射頻特性評估：插入損耗（≤0.5dB，頻率1GHz）

• 屏蔽效能測量：衰減值（dB，頻率范圍30MHz-1GHz）
• 靜電放電試驗：絕緣失效電壓（ESD等級±8kV）
• 電磁干擾測試：傳導發(fā)射限值（參照CISPR22）

• 壽命加速試驗：MTTF值（激活能0.7eV）
• 失效分析：微短路檢測（顯微鏡分辨率1μm）
• 封裝完整性評估：氣密性泄漏率（≤1×10??Pa·m3/s）

檢測范圍

1.環(huán)氧樹脂封裝材料：應用于IC封裝和LED器件，重點檢測絕緣電阻穩(wěn)定性和濕熱老化性能。

2.硅膠封裝材料：用于高柔性電子組件，側重熱膨脹系數(shù)匹配和介電損耗控制。

3.陶瓷封裝材料：適用于高頻電路和高功率器件，核心檢測高頻介電特性和熱沖擊耐受性。

4.聚酰亞胺薄膜：用于柔性電路板覆蓋層，重點評估高溫絕緣電阻和彎曲疲勞電性能。

5.熱塑性塑料封裝：常見于連接器和外殼，檢測導電填充劑的分散均勻性和擊穿電壓。

6.復合封裝材料：如玻璃纖維增強環(huán)氧，側重環(huán)境適應性測試和機械電氣綜合性能。

7.導電膠黏劑：用于電子組裝粘接，重點檢測電導率穩(wěn)定性和老化后電阻變化。

8.封裝用涂層材料：如三防漆，核心評估介質損耗和鹽霧腐蝕后絕緣性能。

9.金屬化聚合物：應用于射頻屏蔽，檢測屏蔽效能和表面電阻率一致性。

10.納米復合材料封裝：用于先進傳感器，重點測試高頻介電常數(shù)和熱導率提升效果。

檢測方法

國際標準：

• IEC60243-1固體絕緣材料電氣強度試驗方法（AC測試為主）
• ASTMD150固體電絕緣材料介電特性標準測試（頻率范圍寬）
• ISO62塑料吸水性能測定（濕度控制嚴格）
• IEC60093絕緣材料體積電阻率和表面電阻率測試（高阻測量）
• IEC61006絕緣材料介質損耗和電容測量（tanδ精度高）
• ASTME1461熱擴散率激光閃射法（非接觸測量）
• IEC60068-2-14溫度變化試驗（快速溫度循環(huán)）
• ISO4892-2塑料實驗室光源暴露方法（紫外老化規(guī)范）
• IEC61000-4-2靜電放電抗擾度試驗（ESD等級劃分）
• CISPR16-2-3無線電騷擾測量（傳導干擾限值）

• GB/T1408.1絕緣材料電氣強度試驗方法（DC模式補充）
• GB/T1409絕緣材料介質損耗和電容測量（頻率上限較低）
• GB/T1410固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗（測試電壓范圍窄）
• GB/T10297非金屬固體材料導熱系數(shù)測定（穩(wěn)態(tài)法主導）
• GB/T2423.17鹽霧試驗方法（濃度控制差異）
• GB/T2423.22溫度變化試驗（循環(huán)速率較快）
• GB/T17626.2靜電放電抗擾度試驗（等級匹配IEC）
• GB/T17626.3射頻電磁場輻射抗擾度試驗（頻率覆蓋不足）
• GB/T2423.37濕熱試驗方法（濕度控制更嚴格）
• GB/T31838.7高分子材料壽命評估（加速模型簡化）

檢測設備

1.高阻計：Keysight4339B型（電阻測量范圍10^4-10^16Ω，精度±5%）

2.介電常數(shù)測試系統(tǒng)：AgilentE4980A型（頻率范圍20Hz-20MHz，電容分辨率0.1fF）

3.絕緣強度測試儀：Chroma19032型（電壓范圍0-50kV，升壓速率0.1-5kV/s）

4.熱分析儀：TAInstrumentsQ400型（溫度范圍-150°C至600°C，熱導率精度±3%）

5.環(huán)境試驗箱：EspecPL-3KPH型（溫濕度范圍-70°C至180°C，濕度10%-98%RH）

6.LCR測試儀：HiokiIM3536型（阻抗測量頻率4Hz-8MHz，基本精度±0.05%）

7.表面電阻測試儀：Trek152-1型（測試電壓10V-1000V，電流范圍1pA-20mA）

8.靜電放電模擬器：EMTestDITO2000型（放電電壓±0.5kV至±30kV，波形符合IEC）

9.頻譜分析儀：R&SFSW26型（頻率范圍2Hz至26.5GHz，動態(tài)范圍>160dB）

10.熱沖擊試驗箱：WeissTS-780型（溫度轉換速率>15°C/min，范圍-80°C至220°C）

11.鹽霧腐蝕箱：AscottS1200型（噴霧量1-2ml/80cm2/h，溫度控制±1°C）

12.紫外老化箱：Q-LABQUV/spray型（輻照強度0.35W/m2，波長340nm）

13.振動測試系統(tǒng)：LDSV890型（頻率范圍5Hz-3000Hz，最大加速度100g）

14.沖擊試驗臺：LansmontS-211型（沖擊加速度10g-500g，脈沖寬度2ms-20ms）

15.顯微鏡分析系統(tǒng)：OlympusBX53M型（放大倍數(shù)50-1000x，分辨率0.2μm）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質