參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.電極板厚度均勻性：測(cè)量鈦基復(fù)合層厚度偏差≤0.05mm
2.隔膜孔隙率測(cè)試：孔徑分布范圍20-200μm，孔隙率≥75%
3.密封性壓力測(cè)試：0.6MPa保壓30分鐘泄漏量＜0.1mL/min
4.電導(dǎo)率測(cè)定：電解液通道接觸電阻≤0.8mΩcm
5.耐壓強(qiáng)度驗(yàn)證：?jiǎn)螛O室爆破壓力≥1.2MPa

檢測(cè)范圍

1.鈦基復(fù)合電極板（TA1/TA10鈦合金基體）
2.全氟磺酸質(zhì)子交換膜（Nafion系列）
3.石墨雙極板（膨脹石墨復(fù)合材料）
4.PTFE密封組件（壓縮回彈率≥35%）
5.鎳基催化劑涂層（Pt載量0.3-1.5mg/cm）

檢測(cè)方法

1.ASTMF316-03多孔材料孔徑分布測(cè)定
2.ISO1853:2018導(dǎo)電橡膠體積電阻率測(cè)試
3.GB/T20018-2017金屬薄板厚度渦流測(cè)量法
4.IEC62447-3:2020電化學(xué)組件密封性試驗(yàn)規(guī)程
5.GB/T35105-2017質(zhì)子交換膜水蒸氣滲透率測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

1.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡（5000倍表面形貌分析）
2.Instron5985萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)（200kN載荷精度0.5%）
3.MalvernMastersizer3000激光粒度儀（0.01-3500μm測(cè)量范圍）
4.Agilent4294A阻抗分析儀（40Hz-110MHz頻率響應(yīng)）
5.ZEISSCONTURAG2三坐標(biāo)儀（空間精度1.8+L/300μm）
6.PARSTAT4000電化學(xué)工作站（100V/2A極化測(cè)試）
7.PfeifferVacuumASM340氦質(zhì)譜檢漏儀（靈敏度510?mbarL/s）
8.NetzschSTA449F3同步熱分析儀（-150℃~2000℃溫控）
9.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（Cu靶Kα輻射源）
10.MettlerToledoXPR205DR微量天平（0.01mg分辨率）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)