參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

結構參數(shù)定量：

• 結晶度測定：結晶相占比（%）、非晶相增量（ΔCI，參照ASTME1426）
• 晶格畸變分析：微應變（ε×10?3）、位錯密度（ρ/m2，ISO21474）
• 晶粒尺寸表征：Scherrer法晶粒尺寸（D<100nm，GB/T23413）

• 多晶相比例：α/β相含量比（±0.5%）
• 亞穩(wěn)相轉化：殘余奧氏體分解率（γ→α'）

• 點缺陷濃度：空位團簇密度（≥101?/m3）
• 層錯概率：六方密堆結構層錯系數(shù)（SF%）

• 織構弱化度：極圖最大強度衰減率（ΔPmax%）
• 擇優(yōu)取向角偏移：（Δθ≤0.5°）

• 彌散散射強度：非晶包絡面積比（A?/A?）
• 短程有序度：配位數(shù)變化（ΔCN±0.2）

• 殘余應力梯度：宏觀應力（σ<500MPa）、微觀應力（σ?）
• 剪切應力集中：晶界應力集中因子（Kt≥1.8）

• 位移損傷劑量：DPA值（dpa/s）
• 氣泡密度：氦泡面密度（≥101?/m2）

• 晶界滑移量：晶界偏移角（β≥5°）
• 位錯增殖：位錯環(huán)密度（Δρ/ρ?%）

• 析出相粗化：第二相平均尺寸（d≥50nm）
• 相分離程度：調幅分解波長（λ=10-100nm）

• 表面非晶層：腐蝕產(chǎn)物層厚度（t≥2μm）
• 晶間腐蝕深度：晶界侵蝕指數(shù)（IGA≤30μm）

檢測范圍

1.金屬合金：鈦/鎳基高溫合金、鋁合金系列，側重高溫蠕變后晶界遷移與非晶化

2.高分子材料：聚醚醚酮（PEEK）、聚酰胺（PA66），檢測紫外老化后分子鏈斷裂程度

3.陶瓷涂層：熱障涂層（YSZ/Al?O?），分析熱震循環(huán)引起的相變增重

4.半導體晶圓：硅/鍺基片，測量離子注入導致的非晶層厚度

5.核材料：鋯合金包殼管、核石墨，量化中子輻照腫脹引起的晶格膨脹

6.磁性材料：NdFeB永磁體，評估氫碎處理后的晶界相非晶化率

7.復合材料：C/C-SiC陶瓷基復合材料，檢測纖維/基體界面脫粘損傷

8.地質樣品：玄武巖、橄欖石，測定隕石沖擊產(chǎn)生的沖擊熔融非晶相

9.生物材料：羥基磷灰石涂層，表征體液腐蝕引起的結晶度下降梯度

10.納米粉末：金屬/氧化物納米顆粒，監(jiān)控高能球磨誘導的非晶相形成動力學

檢測方法

國際標準：

• ASTME1426-14定量相分析標準規(guī)程
• ISO20203:2016碳材料結晶度測定
• JISK0131:2016高分子X射線衍射通則

• GB/T23413-2023納米粉體結晶度測定
• GB/T30904-2023無機非金屬材料定量相分析
• GB/T39852-2021殘余應力測試規(guī)范

檢測設備

1.高分辨率衍射儀：RigakuSmartLabSE（2θ精度±0.0001°，CuKα輻射）

2.多維測角儀：BrukerD8ADVANCE（Ψ角范圍±60°，精度0.001°）

3.低溫附件：AntonPaarTTK600（77-773K控溫，ΔT±0.1K）

4.高溫反應室：PaarHTK1200N（室溫-1600℃，真空度10??mbar）

5.應力分析模塊：ProtoLXRDCr靶應力儀（ψ角自動掃描，σ分辨率±20MPa）

6.小角散射系統(tǒng)：SAXSessmc2（q范圍0.06-28nm?1，光子計數(shù)探測器）

7.織構測角儀：PanalyticalX'PertProMRD（5軸歐拉環(huán)，角分辨率0.0001°）

8.薄膜附件：GlancingIncidenceXRD（入射角0.2-5°可調，深度分辨率10nm）

9.快速探測器：HyPix-3000（500fps高速采集，動態(tài)范圍>10?）

10.單色器系統(tǒng)：Ge(220)×2晶體單色器（Δλ/λ<0.01%）

11.微區(qū)衍射裝置：OxfordDiffractionXcalibur（50μm束斑尺寸，CCD探測器）

12.原位拉伸臺：DebenCT5000（載荷5kN，應變速率0.001-10mm/min）

13.氣氛控制系統(tǒng)：AntonPaarCHC+（氧含量<0.1ppm，濕度<1%RH）

14.同步輻射聯(lián)用：BL14B1線站適配器（能量范圍5-20keV）

15.全自動樣品臺：XYZR四軸機器人（定位精度±1μm，100位樣品盤）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務。

中析儀器 資質